Виявлення особливостей топографії паперу з водяними знаками на мікро- та нанорівнях

Authors: Kyrychok, Tetiana, Klymenko, Tetiana, Talimonova, Nadiia, Svezhentsova, Katerina

Source: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 2, № 12 (98) (2019): Materials Science; 28-35
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 2, № 12 (98) (2019): Материаловедение; 28-35
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 2, № 12 (98) (2019): Матеріалознавство; 28-35

Subject Terms: защищенная бумага, шероховатость, контактная профилометрия, атомно-силовая микроскопия, поверхностная структура бумаги, UDC 676.2, 655.3.066.36, 539.211, 0211 other engineering and technologies, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, захищений папір, шорсткість, контактна профілометрія, атомно-силова мікроскопія, поверхнева структура паперу, 02 engineering and technology, tamper-proof paper, roughness, contact profilometry, atomic force microscopy, surface structure of paper

File Description: application/pdf

Access URL: http://journals.uran.ua/eejet/article/view/164071