Особенности спектров отражения тонких пленок углерода и кремния в видимой области

Authors: Константин Васильевич Соломатин, Ольга Сергеевна Мельникова, Алексей Сергеевич Белоусов

Source: Известия Алтайского государственного университета, Iss 4(126), Pp 60-66 (2022)

Subject Terms: тонкие пленки, отражательная способность, поглощательная способность, комплексный показатель преломления, интерференционные методы, Physics, QC1-999, History (General), D1-2009

File Description: electronic resource

Relation: http://izvestiya.asu.ru/article/view/11817; https://doaj.org/toc/1561-9443; https://doaj.org/toc/1561-9451

Access URL: https://doaj.org/article/d4c0a71b002443578ca9363d72161a4d

Измерение поглощения тонких углеродных пленок в видимой области спектра

Authors: Алексей Сергеевич Белоусов, Ольга Сергеевна Мельникова, Константин Васильевич Соломатин

Source: Известия Алтайского государственного университета, Iss 1(123), Pp 16-22 (2022)

Subject Terms: тонкие пленки, показатель поглощения, комплексный показатель преломления, интерференционные методы, углерод, Physics, QC1-999, History (General), D1-2009

File Description: electronic resource

Relation: http://izvestiya.asu.ru/article/view/11102; https://doaj.org/toc/1561-9443; https://doaj.org/toc/1561-9451

Access URL: https://doaj.org/article/064eacc2a2fb4da8a98dd8d90a033675

ПОВЕРХНОСТНАЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ СВЕРХТОНКИХ СЛОЁВ

Subject Terms: сверхтонкие плёнки, complex refractive index, эллипсометрия, ultrathin films, optical constants, оптические константы, комплексный показатель преломления, ellipsometry

Высокоточное восстановление спектральных оптических характеристик среды с помощью терагерцовой импульсной спектроскопии

Authors: Зайцев, К., Гавдуш, А., Карасик, В., Юрченко, С.

Subject Terms: ТЕРАГЕРЦОВЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, ИМПУЛЬСНАЯ ТЕРАГЕРЦОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, НЕКОРРЕКТНАЯ ОБРАТНАЯ ЗАДАЧА ЭЛЕКТРОДИНАМИКИ, ТЕРАГЕРЦОВЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ, КОМПЛЕКСНЫЙ ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ СРЕДЫ

File Description: text/html

Availability: http://cyberleninka.ru/article/n/vysokotochnoe-vosstanovlenie-spektralnyh-opticheskih-harakteristik-sredy-s-pomoschyu-teragertsovoy-impulsnoy-spektroskopii
http://cyberleninka.ru/article_covers/15753531.png

Интерференционная холоэллипсометрия «In situ» прозрачного двумерного одноосного кристалла при нормальном отражении лазерного излучения

Authors: Али, Мухаммед, Качурин, Юрий, Кирьянов, Анатолий, Рыжова, Татьяна, Шапкарин, Игорь

Subject Terms: ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ, ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ, ИНТЕРФЕРОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА, КОМПЛЕКСНЫЙ ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ, ПОЛЯРИЗАЦИЯ СВЕТА, ЭЛЛИПСОМЕТР

File Description: text/html

Availability: http://cyberleninka.ru/article/n/interferentsionnaya-holoellipsometriya-in-situ-prozrachnogo-dvumernogo-odnoosnogo-kristalla-pri-normalnom-otrazhenii-lazernogo
http://cyberleninka.ru/article_covers/14252059.png

Высокоточное восстановление спектральных оптических характеристик среды с помощью терагерцовой импульсной спектроскопии

Source: Вестник Московского государственного технического университета им. Н.Э. Баумана. Серия «Естественные науки».

Subject Terms: 0103 physical sciences, 02 engineering and technology, ТЕРАГЕРЦОВЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, ИМПУЛЬСНАЯ ТЕРАГЕРЦОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, НЕКОРРЕКТНАЯ ОБРАТНАЯ ЗАДАЧА ЭЛЕКТРОДИНАМИКИ, ТЕРАГЕРЦОВЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ, КОМПЛЕКСНЫЙ ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ СРЕДЫ, 0210 nano-technology, 01 natural sciences

File Description: text/html

Access URL: http://cyberleninka.ru/article/n/vysokotochnoe-vosstanovlenie-spektralnyh-opticheskih-harakteristik-sredy-s-pomoschyu-teragertsovoy-impulsnoy-spektroskopii
http://cyberleninka.ru/article_covers/15753531.png

Определение комплексного показателя преломления эталона для измерения коэффициента отражения

Subject Terms: Обратная задача оптики, Complex refractive index, Зворотна задача оптики, Комплексный показатель преломления, Спектрофотометр, Комплексний показник заломлення, Inverse problem of optics, Spectrophotometer

File Description: application/pdf

Access URL: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36015

Интерференционная холоэллипсометрия «In situ» прозрачного двумерного одноосного кристалла при нормальном отражении лазерного излучения

Source: Вестник Российского университета дружбы народов. Серия: Математика, информатика, физика.

Subject Terms: ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ, ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ, ИНТЕРФЕРОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА, КОМПЛЕКСНЫЙ ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ, ПОЛЯРИЗАЦИЯ СВЕТА, ЭЛЛИПСОМЕТР

File Description: text/html

Access URL: http://cyberleninka.ru/article_covers/14252059.png
http://cyberleninka.ru/article/n/interferentsionnaya-holoellipsometriya-in-situ-prozrachnogo-dvumernogo-odnoosnogo-kristalla-pri-normalnom-otrazhenii-lazernogo

Определение комплексного показателя преломления эталона для измерения коэффициента отражения ; Визначення комплексного показника за ломлення еталона для вимірювання коефіцієнта відбиття ; Definition of the Complex Refractive Index of an Etalon for Measuring the Reflection Coefficient

Authors: Шкалето, В.И., Копач, Г.И., Зайцев, Р.В.

Subject Terms: Комплексный показатель преломления, Обратная задача оптики, Комплексний показник заломлення, Спектрофотометр, Зворотна задача оптики, Complex refractive index, Spectrophotometer, Inverse problem of optics

File Description: application/pdf

Relation: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36015

Availability: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36015

Рассеивающие свойства радиально неоднородного шара из металлических наночастиц и диэлектрической матрицы

Authors: Донченко, Валерий Алексеевич, Землянов, Алексей Анатольевич, Самохвалов, Игнатий Викторович, Апексимов, Дмитрий Владимирович, Панамарева, Анна Николаевна, Трифонова, Алина Витальевна, Панамарев, Николай Семенович

Source: Оптика атмосферы и океана. Физика атмосферы [Электронный ресурс] : материалы XXIII Международного симпозиума, 3-7 июля 2017 года, Иркутск : труды. Томск, 2017. С. B337-B340

Subject Terms: наночастицы металлов, эффективная диэлектрическая проницаемость, диэлектрические матрицы, металлодиэлектрические композиты, комплексный показатель преломления

File Description: application/pdf

Relation: vtls:000633597; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633597

Availability: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633597

Interference Holoellipsometry 'in situ' of a Transparent Two-Dimensional Uniaxial Crystal at Normal Angle Laser Radiation Reflection ; Интерференционная холоэллипсометрия «in situ» прозрачного двумерного одноосного кристалла при нормальном отражении лазерного излучения

Authors: Ali M., Kachurin Yu.Yu., Kiryanov A.P., Ryjova T.A., Shapkarin I.P.

Source: RUDN Journal of Mathematics, Information Sciences and Physics

Subject Terms: эллипсометрия, интерференция, интерферометр Майкельсона, комплексный показатель преломления, поляризация света, эллипсометр, ellipsometry, interference, Michelson interferometer, complexrefractive index, polarization of light, ellipsometer

Relation: https://repository.rudn.ru/records/article/record/54624/

Availability: https://repository.rudn.ru/records/article/record/54624/