Showing 1 - 10 results of 10 for search '"инфракрасная фурье-спектроскопия"', query time: 0.55s Refine Results
  1. 1
  2. 2
    Academic Journal

    Source: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 6, № 12 (96) (2018): Materials Science; 35-42
    Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 6, № 12 (96) (2018): Материаловедение; 35-42
    Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 6, № 12 (96) (2018): Матеріалознавство; 35-42

    File Description: application/pdf

  3. 3
    Academic Journal

    Contributors: V.E. Zuev Institute of Atmospheric Optics (IAO), Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (SB RAS), Groupe de spectrométrie moléculaire et atmosphérique (GSMA), Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Jet Propulsion Laboratory (JPL), NASA-California Institute of Technology (CALTECH), LRC Science Directorate, NASA Langley Research Center Hampton (LaRC), Department of Physics, Astronomy and Geophysics New London, Connecticut College, Laboratory of Theoretical Spectroscopy Tomsk (LTS), Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (SB RAS)-Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (SB RAS), ANR-16-CE31-0005,e-PYTHEAS,Etude des hydrocarbures en émission et absorption dasn les exoplanètes à haute température(2016)

    Source: Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer. 2018. Vol. 219. P. 323-332

    Linked Full Text
  4. 4
  5. 5
  6. 6
    Academic Journal

    Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; № 3 (2014); 194-198 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; № 3 (2014); 194-198 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2014-3

    File Description: application/pdf

    Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/142/134; Ковтонюк, Н. Ф. Видиконы, чувствительные в средней инфракрасной области спектра, с фотомишенями на структурах полупроводник—диэлектрик / Н. Ф. Ковтонюк, В. П. Мисник, А. В. Соколов // Прикладная физика. − 2005. − No 6. − C. 134— 140.; Грама, Д. М. Автоэпитаксиальные структуры арсенида индия для ИК ФПУ. / Д. М. Грама, А. С. Петров, С. Д. Попов, Р. М. Степанов, Е. В. Чилаева // Изв. СПбГЭТУ ЛЭТИ. − 2008. −No 7.−C.13—18.; Ковалишина,Е.А.Химико−механическаяполировкаподложекавтоэпитаксиальныхструктурарсенидаиндия/Е. А. Ковалишина,Е.А.Нечаев,А.С.Петров//Физикаихимияобработки материалов. − 2013. − No 1. − C. 47—51.; Борн,М.Основыоптики/М.Борн,Э.Вольф.−М.:Наука, 1973. − 720 с.; Пихтин,А.Н.Рефракциясветавполупроводниках:Обзор / А. Н. Пихтин, А. Д. Яськов // Физика и техника полупроводников. − 1988. − Т. 22, вып. 6. − С. 969—991.; Пихтин, А. Н. Квантовая и оптическая электроника / А. Н. Пихтин. − М. : Абрис, 2012. − 656 с.; Батавин,В.В.Измерениепараметровполупроводниковых материаловиструктур/В.В.Батавин,Ю.А.Концевой,Ю. В. Федорович. − М. : Радио и связь, 1985. − 264 с.; Комков, О. С. Определение толщины и спектральной зависимости показателя преломления эпитаксиальных слоев AlxIn1−xSb из спектров отражения / О. С. Комков, Д. Д. Фирсов, А. Н. Семенов, Б. Я. Мельцер, С. И. Трошков, А. Н. Пихтин, С. В. Иванов // Физика и техника полупроводников. − 2013. − Т. 47, вып. 2. − С. 264—269.; https://met.misis.ru/jour/article/view/142

  7. 7
  8. 8
  9. 9
  10. 10