Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Subject Terms: транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, материалы конференций, параметрическая надёжность, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=216128

Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Authors: Шнейдеров, Е. Н.

Subject Terms: материалы конференций, параметрическая надёжность, транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН

Relation: https://openrepository.ru/article?id=216128

Availability: https://openrepository.ru/article?id=216128

Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Authors: Шнейдеров, Е. Н.

Index Terms: материалы конференций, параметрическая надёжность, транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН, Article

URL: http://hdl.handle.net/rour/216128uri