FORECASTING METHOD OF INDIVIDUAL Phasing of electronic products by simulation IMPACTS

Authors: S. M. Baravikou

Source: Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioèlektroniki, Vol 0, Iss 6, Pp 12-18 (2019)

Subject Terms: изделия электронной техники, биполярные транзисторы, метод имитационных воздействий, индивидуальное прогнозирование значений параметра, прогнозирование постепенных отказов, Electronics, TK7800-8360

File Description: electronic resource

Relation: https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/216; https://doaj.org/toc/1729-7648

Access URL: https://doaj.org/article/86bda510a1a9426997991b2749506c02

Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий

Subject Terms: прогнозирование постепенных отказов, индивидуальное прогнозирование значений параметра, метод имитационных воздействий, биполярные транзисторы, изделия электронной техники, доклады БГУИР

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=216476

Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий ; Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts

Authors: Боровиков, С. М.

Subject Terms: доклады БГУИР, изделия электронной техники, биполярные транзисторы, метод имитационных воздействий, индивидуальное прогнозирование значений параметра, прогнозирование постепенных отказов

Relation: https://openrepository.ru/article?id=216476

Availability: https://openrepository.ru/article?id=216476

Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий

Additional Titles: Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts

Authors: Боровиков, С. М.

Index Terms: доклады БГУИР, изделия электронной техники, биполярные транзисторы, метод имитационных воздействий, индивидуальное прогнозирование значений параметра, прогнозирование постепенных отказов, Article

URL: http://hdl.handle.net/rour/216476uri