COMPUTERIZED MONITORING SYSTEM FOR PARAMETERS OF ELECTRON BEAM PROCESSING OF OPTICAL COMPONENTS IN COMPUTER SYSTEMS

Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 68(2) (2024); 43-49
Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 68(2) (2024); 43-49
Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 68(2) (2024); 43-49

Subject Terms: моніторинг, electron beam processing, monitoring, optical component, мікропроцесорний блок керування, комп'ютеризована система, технологічний параметр, computerized system, technological parameter, оптичний компонент, електронно-променеве оброблення, microprocessor control unit

File Description: application/pdf

Access URL: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/318195

Комп'ютеризована система моніторингу параметрів електронно-променевого оброблення оптичних компонентів комп’ютерних систем

Contributors: ELAKPI

Subject Terms: моніторинг, electron beam processing, monitoring, optical component, мікропроцесорний блок керування, комп'ютеризована система, технологічний параметр, computerized system, technological parameter, оптичний компонент, електронно-променеве оброблення, microprocessor control unit

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/73071

COMPUTERIZED MONITORING SYSTEM FOR PARAMETERS OF ELECTRON BEAM PROCESSING OF OPTICAL COMPONENTS IN COMPUTER SYSTEMS ; КОМП'ЮТЕРИЗОВАНА СИСТЕМА МОНІТОРИНГУ ПАРАМЕТРІВ ЕЛЕКТРОННО-ПРОМЕНЕВОГО ОБРОБЛЕННЯ ОПТИЧНИХ КОМПОНЕНТІВ КОМП’ЮТЕРНИХ СИСТЕМ

Authors: Мацепа, Сергій, Антоненко, Сергій

Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 68(2) (2024); 43-49 ; Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 68(2) (2024); 43-49 ; Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 68(2) (2024); 43-49 ; 2663-3450 ; 0321-2211

Subject Terms: комп'ютеризована система, моніторинг, електронно-променеве оброблення, оптичний компонент, мікропроцесорний блок керування, технологічний параметр, computerized system, monitoring, electron beam processing, optical component, microprocessor control unit, technological parameter

File Description: application/pdf

Relation: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/318195/309232; http://visnykpb.kpi.ua/article/view/318195

Availability: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/318195

Вплив умов лазерної та електронно-променевої обробки на структуру порошкового матеріалу системи Ti-Ni

Contributors: Мініцький, Анатолій Вячеславович, ELAKPI

Subject Terms: лазерна поверхнева обробка, твердість, механічні властивості, просочування, міцність, оксид титан-нікель, механічна суміш, електронно-променеве оброблення, титан-нікель, плаковані порошки

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/73962

Підвищення якості поверхонь оптичних елементів комбінованим електронно-променевим обробленням

Contributors: ELAKPI

Subject Terms: мікрошорсткість, оптичне скло, механічне напруження, якість, тонке покриття, електронно-променеве оброблення

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42565

Підвищення якості поверхонь оптичних елементів комбінованим електронно-променевим обробленням ; “Приладобудування: стан і перспективи”, XХ Міжнародна науково-технічна конференція

Authors: Коваленко, Ю. І., Бондаренко, М. О., Антонюк, В. С.

Source: XХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції

Subject Terms: електронно-променеве оброблення, оптичне скло, тонке покриття, якість, мікрошорсткість, механічне напруження, 621.9.048.7

File Description: C. 57-60; application/pdf

Relation: Коваленко, Ю. І. Підвищення якості поверхонь оптичних елементів комбінованим електронно-променевим обробленням / Коваленко Ю. І., Бондаренко М. О., Антонюк В. С. // XХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – С. 57–60. – Бібліогр.: 6 назв.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42565

Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42565