Інформаційно-вимірювальна система для дослідження низькоінтенсивних електричних полів

Θεματικοί όροι: перетворювач фізичних величин, електрофізичні параметри, електронно-променеве модифікування, регресійна модель, тиск, електростатичний зонд, штучна нейронна мережа, математичне планування експерименту, просторово-часова візуалізація, статичне (квазістатичне) електричне поле, неруйнівний контроль, вологість, цифрова обробка сигналів, атомно-силова мікроскопія, оптоелектронні пристрої, моніторинг, профіль поверхні, точність та відтворюваність вимірювань, сенсор, спостереження, інформаційні технології, температура, статична характеристика, непрямі вимірювання, інформаційно-вимірювальна система, оптимальне керування, 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка

Περιγραφή αρχείου: application/octet-stream; application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/5900

Research of Microhardness of Thin Ceramic Coatings Formed by Combined Electron-beam Method on Dielectric Materials

Συγγραφείς: Antonyuk, V.S., Bondarenko, Yu.Yu., Bilokin’, S.O., Andrienko, V.O., Bondarenko, M.O.

Θεματικοί όροι: electron beam modification, atomic force microscopy, керамічні покриття, діелектрик, ceramic coatings, мікротвердість, microhardness, електронно-променеве модифікування, silicon, dielectric, кремній, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/msword

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/75424

Інформаційно-вимірювальна система для дослідження низькоінтенсивних електричних полів

Συγγραφείς: Тичков, Дмитро Володимирович

Θεματικοί όροι: атомно-силова мікроскопія, вологість, електронно-променеве модифікування, електростатичний зонд, електрофізичні параметри, інформаційні технології, інформаційно-вимірювальна система, математичне планування експерименту, моніторинг, непрямі вимірювання, неруйнівний контроль, оптимальне керування, оптоелектронні пристрої, перетворювач фізичних величин, просторово-часова візуалізація, профіль поверхні, регресійна модель, сенсор, спостереження, статична характеристика, статичне (квазістатичне) електричне поле, температура, тиск, точність та відтворюваність вимірювань, цифрова обробка сигналів, штучна нейронна мережа, 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка

Περιγραφή αρχείου: application/octet-stream; application/pdf; text/html

Relation: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/5900

Διαθεσιμότητα: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/5900

Research of Microhardness of Thin Ceramic Coatings Formed by Combined Electron-beam Method on Dielectric Materials ; Дослідження мікротвердості тонких керамічних покриттів, сформованих комбінованим електронно-променевим методом на діелектричних матеріалах

Συγγραφείς: Antonyuk, V.S., Bondarenko, Yu.Yu., Bilokin’, S.O., Andrienko, V.O., Bondarenko, M.O.

Θεματικοί όροι: керамічні покриття, діелектрик, кремній, мікротвердість, електронно-променеве модифікування, атомно-силова мікроскопія, ceramic coatings, dielectric, silicon, microhardness, electron beam modification, atomic force microscopy

Περιγραφή αρχείου: application/msword

Relation: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/75424

Διαθεσιμότητα: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/75424