-
1
Authors: Волошин, Василий Остапович, Гольман, Михаил Борисович, Коханенко, Андрей Павлович, Войцеховский, Александр Васильевич
Subject Terms: полупроводники узкозонные дефектные, радиационные дефекты полупроводников, теллурид-кадмий-ртуть, кристаллы, диффузия радиационно-стимулированная, примеси полупроводников, диффузия, дефектные структуры полупроводников, дефектообразование в кристаллах радиационное, модели энергетические, облучение нейтронами быстрыми, облучение электронами быстрыми, облучение протонами быстрыми, облучение ионами быстрыми, облучение гамма-квантами быстрыми, электрические свойства кристаллов, оптические свойства кристаллов, фотоэлектрические свойства кристаллов, рекомбинационые свойства кристаллов, структурные свойства кристаллов, термическая стабильность, приборы диагностики, радиационная стойкость, полупроводниковые соединения сложные, радиационные нарушения
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000633219; URN:ISBN:5628013315; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633219
-
2
Authors: Волошин, Василий Остапович, Гольман, Михаил Борисович, Коханенко, Андрей Павлович, Войцеховский, Александр Васильевич
Subject Terms: полупроводники узкозонные дефектные, радиационные дефекты полупроводников, теллурид-кадмий-ртуть, кристаллы, диффузия радиационно-стимулированная, примеси полупроводников, диффузия, дефектные структуры полупроводников, дефектообразование в кристаллах радиационное, модели энергетические, облучение нейтронами быстрыми, облучение электронами быстрыми, облучение протонами быстрыми, облучение ионами быстрыми, облучение гамма-квантами быстрыми, электрические свойства кристаллов, оптические свойства кристаллов, фотоэлектрические свойства кристаллов, рекомбинационые свойства кристаллов, структурные свойства кристаллов, термическая стабильность, приборы диагностики, радиационная стойкость, полупроводниковые соединения сложные, радиационные нарушения
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000633219; URN:ISBN:5628013315; https://openrepository.ru/article?id=281482
Availability: https://openrepository.ru/article?id=281482