Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Θεματικοί όροι: динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=217333

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Συγγραφείς: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Θεματικοί όροι: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест

Relation: Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69.; https://openrepository.ru/article?id=217333

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=217333

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Συγγραφείς: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Όροι ευρετηρίου: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, Статья

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/217333uri