SIMS Analysis of Copper-Nickel Thin Films Alloys

Συγγραφείς: Loboda, Valerii Borysovych, Zubko, V.M., Khursenko, S.M., Saltykova, A.I., Chepizhnyi, A.V.

Πηγή: Journal of Nano- and Electronic Physics. 16:01011-1

Θεματικοί όροι: мідно-нікелеві сплави, copper-nickel alloys, thin films, secondary ion mass spectrometric analysis, вторинно-іонний мас-спектрометричний аналіз, тонкі плівки

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94930

SIMS Analysis of Copper-Nickel Thin Films Alloys ; ВІМС аналіз тонких плівок мідно-нікелевих сплавів

Συγγραφείς: Лобода, Валерій Борисович, Loboda, Valerii Borysovych, Zubko, V.M., Khursenko, S.M., Saltykova, A.I., Chepizhnyi, A.V.

Θεματικοί όροι: вторинно-іонний мас-спектрометричний аналіз, тонкі плівки, мідно-нікелеві сплави, secondary ion mass spectrometric analysis, thin films, copper-nickel alloys

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94930

Διαθεσιμότητα: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94930