Determination of the electron distribution in thin barrier AlGaAs/GaAs superlattices by capacitance-voltage profiling

Authors: E. I. Vasilkova, E. V. Pirogov, M. S. Sobolev, A. I. Baranov, A. S. Gudovskikh, A. D. Bouravleuv

Source: Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики, Vol 22, Iss 6, Pp 1092-1097 (2024)

Subject Terms: вольт-фарадное профилирование, сверхрешетки algaas/gaas, распределение носителей, молекулярно-пучковая эпитаксия, Information technology, T58.5-58.64

File Description: electronic resource

Relation: https://ntv.elpub.ru/jour/article/view/316; https://doaj.org/toc/2226-1494; https://doaj.org/toc/2500-0373

Access URL: https://doaj.org/article/d2a5d5c078be454ab011a9d99a69614e