-
1Academic Journal
Source: Физика и техника полупроводников. 2022. Т. 56, № 9. С. 928-932
-
2Academic Journal
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 139-142
Subject Terms: вольт-сименсные характеристики, носители зарядов, поверхностные состояния, пленки диоксида титана, вольт-фарадные характеристики, диоксид титана, генерация носителей заряда
File Description: application/pdf
-
3Academic Journal
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников, Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 8/3. С. 147-149
Subject Terms: оксиды титана, вольт-сименсные характеристики, кислородная плазма, термический отжиг, вольт-фарадные характеристики, диэлектрическая проницаемость, кремний
File Description: application/pdf
-
4Academic Journal
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 55, № 9/2. С. 37-39
Subject Terms: теллурид кадмия ртути, вольт-сименсные характеристики, зонные диаграммы, квантовые ямы, вольт-фарадные характеристики, молекулярно-лучевая эпитаксия, МДП-структуры
File Description: application/pdf
-
5Academic Journal
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55 № 8/2. С. 123-126
Subject Terms: арсенид галлия, вольт-сименсные характеристики, поверхностные состояния, оксид галлия, вольт-фарадные характеристики, МДП-структуры
File Description: application/pdf
-
6Academic Journal
Authors: Калыгина, Вера Михайловна, Петрова, Юлианна Сергеевна, Прудаев, Илья Анатольевич, Толбанов, Олег Петрович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 6. С. 3-6
Subject Terms: арсенид галлия, оксид галлия, МОП-структуры, вольт-фарадные характеристики, вольт-сименсные характеристики
File Description: application/pdf
Relation: koha:001141259; https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141259
-
7Academic Journal
Authors: Калыгина, Вера Михайловна, Прудаев, Илья Анатольевич, Толбанов, Олег Петрович, Макаров, Владимир Анатольевич
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 139-142
Subject Terms: вольт-фарадные характеристики, вольт-сименсные характеристики, диоксид титана, поверхностные состояния, генерация носителей заряда, носители зарядов, пленки диоксида титана
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000577400; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000577400
-
8Academic Journal
Authors: Зарубин, Андрей Николаевич, Калыгина, Вера Михайловна, Новиков, Вадим Александрович, Петрова, Юлианна Сергеевна, Прудаев, Илья Анатольевич, Толбанов, Олег Петрович, Черников, Евгений Викторович, Яскевич, Тамара Михайловна, Цупий, Светлана Юрьевна
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников, Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 8/3. С. 147-149
Subject Terms: оксиды титана, кремний, кислородная плазма, термический отжиг, вольт-фарадные характеристики, вольт-сименсные характеристики, диэлектрическая проницаемость
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000468359; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000468359
-
9Academic Journal
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 55, № 9/2. С. 37-39
Subject Terms: МДП-структуры, теллурид кадмия ртути, квантовые ямы, зонные диаграммы, вольт-фарадные характеристики, вольт-сименсные характеристики, молекулярно-лучевая эпитаксия
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000472349; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000472349
-
10Academic Journal
Authors: Калыгина, Вера Михайловна, Петрова, Юлианна Сергеевна, Цупий, Светлана Юрьевна, Толбанов, Олег Петрович, Тяжев, Антон Владимирович, Яскевич, Тамара Михайловна, Зарубин, Андрей Николаевич
Contributors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55 № 8/2. С. 123-126
Subject Terms: арсенид галлия, МДП-структуры, оксид галлия, поверхностные состояния, вольт-фарадные характеристики, вольт-сименсные характеристики
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000448592; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000448592