Morphological and size characterization of zinc oxide nanoparticles and evaluation of their cytotoxicity on the MCF-7 cell line

Συγγραφείς: Shermatova Iroda Bakhtiyor kizi, Sagdullayev Shamansur Shakhsaidovich, Khusniddinova Azizakhon Ravshan kizi, Akhmadova Gulrano, Rajabova Nargiza Khalimovna, Tayirova Dilobar Bakhtiyarovna

Πηγή: ScienceRise: Pharmaceutical Science; No. 4 (56) (2025); 88-96
ScienceRise: Pharmaceutical Science; № 4 (56) (2025); 88-96

Θεματικοί όροι: наночастинки оксиду цинку, Scutellaria Iscanderi, green synthesis, zinc oxide nanoparticles, цитотоксичність, dynamic light scattering (DLS), breast cancer, динамічне розсіювання світла (ДРС), скануюча електронна мікроскопія (СЕМ), cytotoxicity, atomic force microscopy (AFM), зелений синтез, MCF-7, scanning electron microscopy (SEM), рак молочної залози, атомно-силова мікроскопія (АСМ)

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://journals.uran.ua/sr_pharm/article/view/338297

Morphological and size characterization of zinc oxide nanoparticles and evaluation of their cytotoxicity on the MCF-7 cell line

Συγγραφείς: Bakhtiyor kizi, Shermatova Iroda, Shakhsaidovich , Sagdullayev Shamansur, Ravshan kizi, Khusniddinova Azizakhon, Gulrano, Akhmadova, Khalimovna, Rajabova Nargiza, Bakhtiyarovna, Tayirova Dilobar

Πηγή: ScienceRise: Pharmaceutical Science; No. 4 (56) (2025); 88-96
ScienceRise: Pharmaceutical Science; № 4 (56) (2025); 88-96

Θεματικοί όροι: наночастинки оксиду цинку, Scutellaria Iscanderi, green synthesis, zinc oxide nanoparticles, цитотоксичність, dynamic light scattering (DLS), breast cancer, динамічне розсіювання світла (ДРС), скануюча електронна мікроскопія (СЕМ), cytotoxicity, atomic force microscopy (AFM), зелений синтез, MCF-7, scanning electron microscopy (SEM), рак молочної залози, атомно-силова мікроскопія (АСМ)

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://journals.uran.ua/sr_pharm/article/view/338297

Computer Modelling of Metal Nanoparticles Adsorbed on Graphene

Συγγραφείς: Khomenko, Oleksii Vitaliiovych, Biesiedina, Antonina Anatoliivna, Khomenko, Kateryna Pavlivna, Chernushchenko, R.R.

Πηγή: Успехи физики металлов, Vol 23, Iss 2, Pp 239-267 (2022)

Θεματικοί όροι: молекулярна динаміка, atomic force microscopy, nanoparticle, Physics, QC1-999, наночастинка, graphene, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, 7. Clean energy, графен, molecular dynamics, комп'ютерна модель, 0103 physical sciences, computer model, напорошення, sputtering, 0210 nano-technology, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://doaj.org/article/3bc317a61419420b8176ade6ad67c528
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88966

Investigation of functional surfaces of mechatronic devices by multiprobe atomic force microscopy

Συγγραφείς: Igor Kobyts, Oleksandr Brunov, Olga Andriienko, Svitlana Bilokin, Serhii Rotte, Maksym Bondarenko

Πηγή: Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021

Θεματικοί όροι: thin coating, surface topology, топологія поверхні, functional surface, тонке покриття, mechatronic device, multiprobe atomic-force microscopy, мультизондова атомно-силова мікроскопія, мехатронний пристрій, функціональна поверхня

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972

Вплив поверхневої морфології масиву кремнієвих нанониток на їх вологочутливі характеристики

Πηγή: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Radioelektronika; Vol. 66 No. 8 (2023); 478-489
Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника; Том 66 № 8 (2023); 478-489
Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка; Том 66 № 8 (2023); 478-489

Θεματικοί όροι: сенсор вологості, кремнієва нанонитка, поверхнева шорсткість, атомно-силова мікроскопія, вологочутливість, метало–стимульоване хімічне травлення

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347023110018

Інформаційно-вимірювальна система для дослідження низькоінтенсивних електричних полів

Θεματικοί όροι: перетворювач фізичних величин, електрофізичні параметри, електронно-променеве модифікування, регресійна модель, тиск, електростатичний зонд, штучна нейронна мережа, математичне планування експерименту, просторово-часова візуалізація, статичне (квазістатичне) електричне поле, неруйнівний контроль, вологість, цифрова обробка сигналів, атомно-силова мікроскопія, оптоелектронні пристрої, моніторинг, профіль поверхні, точність та відтворюваність вимірювань, сенсор, спостереження, інформаційні технології, температура, статична характеристика, непрямі вимірювання, інформаційно-вимірювальна система, оптимальне керування, 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка

Περιγραφή αρχείου: application/octet-stream; application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/5900

Вплив поверхневої морфології масиву кремнієвих нанониток на їх вологочутливі характеристики

Συγγραφείς: Ліневич, Ярослав Олексійович, Коваль, Вікторія Михайлівна, Душейко, Михайло Григорович, Лакида, Марина Олексіївна

Πηγή: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Radioelektronika; Vol. 66 No. 8 (2023); 478-489 ; Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника; Том 66 № 8 (2023); 478-489 ; Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка; Том 66 № 8 (2023); 478-489 ; 2307-6011 ; 0021-3470

Θεματικοί όροι: поверхнева шорсткість, вологочутливість, сенсор вологості, кремнієва нанонитка, атомно-силова мікроскопія, метало–стимульоване хімічне травлення

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347023110018/300838; https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347023110018

Διαθεσιμότητα: https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347023110018

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics

Συγγραφείς: Vashchenko, Vyacheslav, Yatsenko, Irina, Kovalenko, Yuriy, Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.

Πηγή: Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol 22, Iss 4, Pp 444-451 (2019)

Θεματικοί όροι: поверхневий плазмонний резонанс, X-ray reflectometry, Physics, QC1-999, рентгенівська рефлектометрія, sensitivity, 01 natural sciences, чутливість, електронно-променева обробка, еліпсометрія, electron-beam processing, 0103 physical sciences, x-ray reflectometry, atomic-force microscopy, атомно-силова мікроскопія, surface plasmon resonance, ellipsometry

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://doaj.org/article/6089f93e047f499c857e1cc17c29efb3
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/4213

Study of rheological properties of vaseline oil suspensions of fumed silica modified with poly(dimethylsiloxane)

Συγγραφείς: I. Ya. Sulym, Olena Goncharuk

Πηγή: Хімія, фізика та технологія поверхні, Vol 10, Iss 3 (2019)

Θεματικοί όροι: пірогенний кремнезем, полідиметилсилоксан, реологічні властивості, Physics, QC1-999, полімерні нанокомпозити, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, 0104 chemical sciences, Chemistry, адсорбційне модифікування, 0210 nano-technology, атомно-силова мікроскопія, QD1-999

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/download/511/514
https://doaj.org/article/aeff23c4f9824ef9bf037a27d8654068
https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/download/511/514
http://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/511

Influence of various capping agents on optical properties and stability of MnS nanoparticles ; Вплив стабілізаторів на оптичні властивості і стабільність наночастинок MnS

Συγγραφείς: Pylypko, V.G., Krupko, O.V., Fochuk, P.M.

Πηγή: Physics and Chemistry of Solid State; Vol. 23 No. 4 (2022); 678-685 ; Фізика і хімія твердого тіла; Том 23 № 4 (2022); 678-685 ; 2309-8589 ; 1729-4428

Θεματικοί όροι: manganese (II) sulphide, nanoparticles, synthesis, L–cysteine, thioglicolic acid, citrate-ions, absorbance spectra, Atomic Force Microscopy, Energy Dispersive X–ray analysis, наночастинки манган (ІІ) сульфіду, синтез, L-Цистеїн, тіогліколева кислота, цитрат-іони, спектри поглинання, атомно-силова мікроскопія, енергодисперсійний рентгенівський аналіз

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/5914/6705; https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/5914/6706; https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/5914

Διαθεσιμότητα: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/5914
https://doi.org/10.15330/pcss.23.4.678-685

Structural and morphological features of microcrystalline сellulose from soybean straw by organosolvent treatment ; Структурні та морфологічні особливості мікрокристалічної целюлози із соєвої соломи

Συγγραφείς: Tkachenko, T. V., Kamenskyh, D. S., Sheludko, Y. V., Yevdokymenko, V. O.

Πηγή: Chemistry, Physics and Technology of Surface; Том 13, № 4 (2022): Хімія, фізика та технологія поверхні; 455-466 ; Химия, физика и технология поверхности; Том 13, № 4 (2022): Хімія, фізика та технологія поверхні; 455-466 ; Хімія, фізика та технологія поверхні; Том 13, № 4 (2022): Хімія, фізика та технологія поверхні; 455-466 ; 2518-1238 ; 2079-1704 ; 10.15407/hftp13.04

Θεματικοί όροι: microcrystalline сellulose, soybean straw, liquor ration, relief of the surface, atomic force microscopy, мікрокристалічна целюлоза, соєва солома, гідромодуль, рельєф поверхні, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/649/661; http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/649

Διαθεσιμότητα: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/649
https://doi.org/10.15407/hftp13.04.455

ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ

Πηγή: Вісник Черкаського державного технологічного університету. Серія: Технічні науки. 1:5-13

Θεματικοί όροι: nanoelectronics, наноелектроніка, діелектрик, microgeometry, microelectronics, atomic-force microscopy, мікроелектроніка, dielectric material, атомно-силова мікроскопія, мікрогеометрія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vtn.chdtu.edu.ua/article/download/153265/152647
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/153265
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/download/153265/152647
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2514

INVESTIGATION OF FUNCTIONAL SURFACES OF MECHATRONIC DEVICES BY MULTIPROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPY

Πηγή: Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021

Θεματικοί όροι: thin coating, surface topology, топологія поверхні, functional surface, тонке покриття, mechatronic device, multiprobe atomic-force microscopy, мультизондова атомно-силова мікроскопія, мехатронний пристрій, функціональна поверхня

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972

Дослідження кристалічної структури і морфології поверхні тонких плівок PbTe та PbTe < Bi2Te3 >

Συγγραφείς: Y. V. Tur, Y. V. Pavlovskyi, I. S. Virt

Πηγή: Хімія, фізика та технологія поверхні, Vol 11, Iss 2 (2020)

Θεματικοί όροι: тонкі плівки, PbTe, імпульсно-лазерне осадження, атомно-силова мікроскопія, Chemistry, QD1-999, Physics, QC1-999

Περιγραφή αρχείου: electronic resource

Relation: https://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/548; https://doaj.org/toc/2079-1704; https://doaj.org/toc/2518-1238

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://doaj.org/article/e5f9c4726b744c818d0fd7e2f5ed5519

APPLICATION OF ATOMIC-FORCE MICROSCOPY FOR THE EXAMINATION OF THE TOOTH ENAMEL SURFACE ; ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ЭМАЛИ ЗУБА ; ЗАСТОСУВАННЯ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ ДЛЯ ВИВЧЕННЯ ПОВЕРХНІ ЕМАЛІ ЗУБА

Συγγραφείς: Pupin, T. І., Minko, L. Yu., Ilnitskaya, O. M., Moroz, K. A., Zaliznyak, M. S., Dubas, M. A.

Πηγή: Bulletin of Scientific Research; No. 1 (2018) ; Вестник научных исследований; № 1 (2018) ; Вісник наукових досліджень; № 1 (2018) ; 2415-8798 ; 1681-276X ; 10.11603/2415-8798.2018.1

Θεματικοί όροι: enamel surface morphology, atomic force microscopy, морфология поверхности эмали, атомно-силовая микроскопия, морфологія поверхні емалі, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf; application/vnd.openxmlformats-officedocument.wordprocessingml.document

Relation: https://ojs.tdmu.edu.ua/index.php/visnyk-nauk-dos/article/view/8715/8116; https://ojs.tdmu.edu.ua/index.php/visnyk-nauk-dos/article/view/8715/8882; https://ojs.tdmu.edu.ua/index.php/visnyk-nauk-dos/article/view/8715/8883; https://repository.tdmu.edu.ua//handle/123456789/12658

Διαθεσιμότητα: https://repository.tdmu.edu.ua//handle/123456789/12658
https://ojs.tdmu.edu.ua/index.php/visnyk-nauk-dos/article/view/8715
https://doi.org/10.11603/2415-8798.2018.1.8715

STRUCTURE, MINERAL AND CHEMICAL COMPOSITION OF URINARYSTONES ; СТРУКТУРА, МІНЕРАЛЬНИЙ ТА ХІМІЧНИЙ СКЛАД СЕЧОВОГО КАМІННЯ

Συγγραφείς: О.О. Підмурняк, А.Я. Ганзюк, О.І. Стремецький

Πηγή: Naukovi notatky; No 67 (2019): Наукові нотатки; 107-116 ; Наукові нотатки; № 67 (2019): Наукові нотатки; 107-116 ; 2415-3966

Θεματικοί όροι: Key words: concrements, infrared spectroscopy, X-ray fluorescence analysis, atomic-strength microscopy, Ключові слова: конкременти, інфрачервона спектроскопія, рентгенофлуоресцентний аналіз, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/naukovi_notatky/article/view/284/292; https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/naukovi_notatky/article/view/284

Διαθεσιμότητα: https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/naukovi_notatky/article/view/284
https://doi.org/10.36910/6775.24153966.2019.67.17

Перспективи застосування матриці зондів на єдиній основі для атомно-силового мікроскопу

Συνεισφορές: ELAKPI

Θεματικοί όροι: атомно-силова мікроскопія, інструментальний мікроскоп, матриця зондів, точне приладобудування

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33460

Methods of layer-by-layer deposition of films and characteristics of two-layer structures based on bacteriorhodopsin

Πηγή: Scientific Herald of Uzhhorod University.Series Physics; Том 46 (2019); 48-53
Научный вестник Ужгородского университета. Серия Физика; Том 46 (2019); 48-53
Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика; Том 46 (2019); 48-53

Θεματικοί όροι: 539.23,621.372.8, Sol-gel technology, Bacteriorhodopsin, Film structures, Spectral analysis, Surface morphology, Atomic force microscopy, Золь-гель технология, Бактериородопсин, Пленочные структуры, Спектральный анализ, Морфология поверхности, Атомно-силовая микроскопия, Золь-гель технологія, Бактеріородопсин, Плівкові структури, Спектральний аналіз, Морфологія поверхні, Атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://fizyka-visnyk.uzhnu.edu.ua/article/view/207031

Виявлення особливостей топографії паперу з водяними знаками на мікро- та нанорівнях

Συγγραφείς: Kyrychok, Tetiana, Klymenko, Tetiana, Talimonova, Nadiia, Svezhentsova, Katerina

Πηγή: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 2, № 12 (98) (2019): Materials Science; 28-35
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 2, № 12 (98) (2019): Материаловедение; 28-35
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 2, № 12 (98) (2019): Матеріалознавство; 28-35

Θεματικοί όροι: защищенная бумага, шероховатость, контактная профилометрия, атомно-силовая микроскопия, поверхностная структура бумаги, UDC 676.2, 655.3.066.36, 539.211, 0211 other engineering and technologies, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, захищений папір, шорсткість, контактна профілометрія, атомно-силова мікроскопія, поверхнева структура паперу, 02 engineering and technology, tamper-proof paper, roughness, contact profilometry, atomic force microscopy, surface structure of paper

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://journals.uran.ua/eejet/article/view/164071

Research of Microhardness of Thin Ceramic Coatings Formed by Combined Electron-beam Method on Dielectric Materials

Συγγραφείς: Antonyuk, V.S., Bondarenko, Yu.Yu., Bilokin’, S.O., Andrienko, V.O., Bondarenko, M.O.

Θεματικοί όροι: electron beam modification, atomic force microscopy, керамічні покриття, діелектрик, ceramic coatings, мікротвердість, microhardness, електронно-променеве модифікування, silicon, dielectric, кремній, атомно-силова мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/msword

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/75424