-
1Academic Journal
Contributors: ELAKPI
Subject Terms: вейвлет- аналіз сигналів, автоматизація процесів виявлення дефектів, аналіз даних НК, класифікація дефектів, підвищення чутливості, опрацювання сигналів, програмні засоби
File Description: application/pdf
Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/75630