Εμφανίζονται 1 - 20 Αποτελέσματα από 54 για την αναζήτηση '"Электронно-лучевое испарение"', χρόνος αναζήτησης: 0,73δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
  2. 2
  3. 3
    Academic Journal

    Πηγή: Doklady of the National Academy of Sciences of Belarus; Том 67, № 2 (2023); 156-162 ; Доклады Национальной академии наук Беларуси; Том 67, № 2 (2023); 156-162 ; 2524-2431 ; 1561-8323 ; 10.29235/1561-8323-2023-67-2

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: https://doklady.belnauka.by/jour/article/view/1124/1123; Зеленин, В. А. Силицидные сплавы азеотропных и эвтектических составов для катодов и мишеней вакуумнодуговых и магнетронных установок / В. А. Зеленин // Современные методы и технологии создания и обработки материалов: сб. науч. тр.: в 2 кн. – Минск, 2021. – Кн. 1: Новые технологии и материалы / редкол.: В. Г. Залесский (гл. ред.) [и др.]. – С. 208–223.; Волочко, А. Т. Многослойные покрытия на элементах компьютера как средство технической защиты информации / А. Т. Волочко, В. А. Зеленин, Е. О. Нарушко // Проблемы информационной безопасности. – Симферополь, 2016. – С. 16–19.; Диаграммы состояния двойных металлических систем: справ.: в 3 т. / под ред. Н. П. Лякишева. – М., 1997. – Т. 2. – С. 275–284.; Определение типа диаграммы равновесия Cu–Ni в области высоких температур методом спектрального анализа / Л. С. Палатник [и др.] // Физика металлов и металловедение. – 1958. – Т. 6, № 3. – С. 540–544.; Gieng, R. Вакуумное испарение / R. Gieng // Технология тонких пленок: справ.: в 2 т. / под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга; пер. с англ. под ред. М. И. Елинсона, Г. Г. Смолко. – М., 1977. – Т. 1. – С. 9–174.; Несмеянов, А. Н. Давление пара химических элементов / А. Н. Несмеянов. – М., 1961. – 397 с.; Лахтин, Ю. М. Материаловедение и термическая обработка металлов / Ю. М. Лахтин. – М., 1983. – 359 с.; Влияние режимов формирования на структуру тонких покрытий, используемых в многослойных экранах ЭМИ / А. Т. Волочко [и др.] // Современные методы и технологии создания и обработки материалов: сб. науч. тр. – Минск, 2019. – С. 60–66.; https://doklady.belnauka.by/jour/article/view/1124

  4. 4
    Conference

    Συγγραφείς: Ярославцева, О. А.

    Relation: Физико-технические проблемы в науке, промышленности и медицине (ФТПНПМ-2019) : сборник научных трудов Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 30 сентября - 04 октября 2019 г. — Томск, 2019.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/56691

    Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/56691

  5. 5
  6. 6
    Conference

    Συνεισφορές: Окс, Е. М.

    Relation: Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. Т. 7 : IT-технологии и электроника. — Томск, 2017.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45340

    Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45340

  7. 7
    Conference

    Relation: "Орбита молодёжи" и перспективы развития российской космонавтики : сборник докладов Всероссийской молодёжной научно-практической конференции, г. Томск, 18-22 сентября 2017 г. — Томск, 2017.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44824

    Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44824

  8. 8
    Academic Journal
  9. 9
  10. 10
  11. 11
  12. 12
  13. 13
  14. 14
  15. 15
    Academic Journal

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: Влияние состава и условий осаждения на структуру и свойства вакуумных композитов на основе меди, упрочненных оксидом алюминия / Э. В. Зозуля [и др.] // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 4 (1176). – С. 10-15.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27140

  16. 16
    Academic Journal

    Πηγή: Fine Chemical Technologies; Vol 11, No 4 (2016); 50-55 ; Тонкие химические технологии; Vol 11, No 4 (2016); 50-55 ; 2686-7575 ; 2410-6593 ; 10.32362/2410-6593-2016-11-4

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: https://www.finechem-mirea.ru/jour/article/view/39/40; https://www.finechem-mirea.ru/jour/article/view/39/228; Maissel L.I., Glang R. Handbook of thin film technology. New York: McGraw-Hill, 1970. 800 p.; Rao K.N. // Opt. Eng. 2002. V. 41. P. 2357-2364.; Зверев Г.М., Левчук Е.А., Скворцов Л.А.// Квантовая электроника. 1977. Т. 4. № 2. С. 413-416.; Колодный Г.Я., Левчук Е.А., Мосиевский В.А., Новопашин В.В., Скворцов Л.А., Полетаев В.Н. // Электронная техника. Сер. 11. Лазерная техника и электроника. 1988. Т. 48. № 4. С. 100-105.; Narasimha K.R. // Proc. SPIE. 1989. V. 1019. Thin Film Technologies III. P. 49-55.; Ebert J. // Thin Solid Films. 1980. V. 1. P. 43-47.; Зверев Г.М., Кудрявцева А.П., Михайлова Т.Н., Наумов В.С., Пашков В.А., Скворцов Л.А. // Электронная техника. Сер. 11. Лазерная техника и электроника. 1979. Т. 2. С. 82-86.; Nordal P.E., Kanstad S. O. // Phys. Scr. 1979. V. 20. P. 659-663.; Зверев Г.М., Скворцов Л.А. // Известия АН СССР. Серия физическая. 1981. Т. 45. С. 644-646.; Santos R., Miranda L.C.M. // J. Appl. Phys. 1981. V. 52. P. 4194-4199.; Лопаткин В.Н., Сидорюк О.Е., Скворцов Л.А. // Квантовая электроника. 1985. Т. 12. С. 339-346.; Mandelis A., Riopel Y. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2000. V. 18. № 2. P. 705-708.; Emeline A., Salinaro A., Ryabchuk V., Serpone N. // Int. J. Photoenergy. 2001. V. 3. P. 1-16.; Hoffmann M., Martin S., Choi W., Bahnemann D. // Chem. Rev. 1995. V. 95. P. 69-96.; Зверев Г.М., Колядин С.А., Левчук Е.А., Скворцов Л.А.// Квантовая электроника. 1977. Т. 12. № 2. С.1882-1888.; Skvortsov L.A. // Quantum Electronics. 2010. V. 40. P. 59-63.

  17. 17
  18. 18
  19. 19
  20. 20
    Academic Journal

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: Рентгенографические исследования структуры вакуумных конденсатов Al-Fe / Е. В. Луценко [и др.] // Вестник Харьковского нац. автомобильно-дорожного ун-та : сб. науч. тр. = Bulletin of Kharkiv National Automobile and Highway University : coll. of sci. works. – Харьков : ХНАДУ, 2015. – Вып. 70. – С. 19-22.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/26900