GREEN SYNTHESIS OF IRON NANOPARTICLES USING BIO-WASTE EXTRACTS

Συγγραφείς: Алі, Mаджид

Πηγή: Journal of Chemistry and Technologies; Vol. 33 No. 2 (2025): Journal of Chemistry and Technologies; 326-332
Journal of Chemistry and Technologies; Том 33 № 2 (2025): Journal of Chemistry and Technologies; 326-332

Θεματικοί όροι: шкірка мигдалевих кісточок, гранатові кірки, виноградні кісточки, растрова електронна мікроскопія, ІЧ-спектроскопія, Фур'є-спектроскопія, almond seed skin, pomegranate peels, grape seeds, Scanning Electron Microscopy, FT-IR spectroscopy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://chemistry.dnu.dp.ua/article/view/317125

GREEN SYNTHESIS OF IRON NANOPARTICLES USING BIO-WASTE EXTRACTS

Συγγραφείς: Ali, Majid, Alam, Rizwan, Shakeel, Muhammad, Un Nisa, Fariha, Ashraf, Kashif, Bukhari, Syed Majid, Zaidi, Asma

Πηγή: Journal of Chemistry and Technologies; Vol. 33 No. 2 (2025): Journal of Chemistry and Technologies; 326-332
Journal of Chemistry and Technologies; Том 33 № 2 (2025): Journal of Chemistry and Technologies; 326-332

Θεματικοί όροι: шкірка мигдалевих кісточок, гранатові кірки, виноградні кісточки, растрова електронна мікроскопія, ІЧ-спектроскопія, Фур'є-спектроскопія, almond seed skin, pomegranate peels, grape seeds, Scanning Electron Microscopy, FT-IR spectroscopy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://chemistry.dnu.dp.ua/article/view/317125

ІДЕНТИФІКАЦІЯ РЕЧОВИН У ВІДКРИТІЙ АТМОСФЕРІ ЗА РЕЗУЛЬТАТАМИ ВИМІРЮВАНЬ ФУР'Є-СПЕКТРОРАДІОМЕТРА

Θεματικοί όροι: відновлення концентрацій, шуми, Фур'є-спектроскопія, інфрачервоні спектри, дистанційний газоаналіз, ідентифікація речовин

Specific features of defect formation in the n­Si single crystals at electron irradiation

Συγγραφείς: Luniov, Sergiy, Zimych, Andriy, Khvyshchun, Mykola, Yevsiuk, Mykola, Maslyuk, Volodymyr

Πηγή: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 6, № 12 (96) (2018): Materials Science; 35-42
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 6, № 12 (96) (2018): Материаловедение; 35-42
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 6, № 12 (96) (2018): Матеріалознавство; 35-42

Θεματικοί όροι: silicon single crystals, infrared Fourier spectroscopy, Hall effect, uniaxial pressure, radiation defects, deep energy levels, монокристали кремнію, інфрачервона Фур'є-спектроскопія, ефект Холла, одновісний тиск, радіаційні дефекти, глибокі енергетичні рівні, 0103 physical sciences, 0211 other engineering and technologies, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, 02 engineering and technology, монокристаллы кремния, инфракрасная Фурье-спектроскопия, эффект Холла, одноосное давление, радиационные дефекты, глубокие энергетические уровни, 0210 nano-technology, UDC 621.315.592, 01 natural sciences

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://journals.uran.ua/eejet/article/download/150959/152822
http://journals.uran.ua/eejet/article/view/150959
http://journals.uran.ua/eejet/article/download/150959/152822
https://www.neliti.com/publications/307930/specific-features-of-defect-formation-in-the-nsi-single-crystals-at-electron-irr
http://journals.uran.ua/eejet/article/view/150959

TECHNOLOGY FOR OBTAINING A SENSITIVE ELEMENT FOR AN INFRARED RADIATION SENSOR ; ТЕХНОЛОГІЯ ОДЕРЖАННЯ ЧУТЛИВОГО ЕЛЕМЕНТА ДЛЯ ДАТЧИКА ІНФРАЧЕРВОНОГО ВИПРОМІНЮВАННЯ

Συγγραφείς: С.В. Луньов, Ю.А. Удовицька, М.В. Хвищун, С.А. Мороз, В.Т. Маслюк

Πηγή: Perspective technologies and devices; No 14 (2019): Perspective technologies and devices; 77-81 ; Перспективні технології та прилади; № 14 (2019): Перспективні технології та придади; 77-81 ; 2313-5352 ; 10.36910/6775-2313-5352-2019-14

Θεματικοί όροι: silicon single crystals, radiation defects, photosensitivity, A-centers, Fourier infrared spectroscopy, Hall effect, Ключові слова: монокристали кремнію, радіаційні дефекти, фоточутливість, А-центри, інфрачервона Фур’є-спектроскопія, ефект Холла

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/jurnal/article/view/115/221; https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/jurnal/article/view/115

Διαθεσιμότητα: https://eforum.lntu.edu.ua/index.php/jurnal/article/view/115
https://doi.org/10.36910/6775-2313-5352-2019-14-13

Effect of the Porous Silicon Layer Structure on Gas Adsorption

Συγγραφείς: Oksanich, A.P., Pritchin, S.E., Mashchenko, M.A., Bobryshev, A.Yu.

Πηγή: Journal of Nano- and Electronic Physics. 12:04020-1

Θεματικοί όροι: інфрачервона Фур'є спектроскопія, porous layer, FTIR spectroscopy, sensor, 13. Climate action, поруватий шар, сенсор, silicon, кремній, 7. Clean energy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79494

Effect of the Porous Silicon Layer Structure on Gas Adsorption ; Вплив структури поруватого шару кремнію на адсорбцію газів

Συγγραφείς: Oksanich, A.P., Pritchin, S.E., Mashchenko, M.A., Bobryshev, A.Yu.

Θεματικοί όροι: поруватий шар, сенсор, кремній, інфрачервона Фур’є спектроскопія, porous layer, sensor, silicon, FTIR spectroscopy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79494

Διαθεσιμότητα: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79494

Фур'є-спектроскопія

Θεματικοί όροι: Fourier transformation, компьютерная техника, computer technology, Fourier spectroscopy, комп'ютерна техніка, спектрометр, Фур'є-спектроскопія, spectrometer, Фурье-спектроскопия, Фурье-преобразования, Фур'є-перетворення

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43441

Фур`є-спектроскопія

Συγγραφείς: Данильченко, П.С.

Θεματικοί όροι: Фур'є-спектроскопія, Фурье-спектроскопия, Fourier spectroscopy, Фур'є-перетворення, Фурье-преобразования, Fourier transformation, комп'ютерна техніка, компьютерная техника, computer technology, спектрометр, spectrometer

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43441

Διαθεσιμότητα: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43441