Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно - силового мікроскопу діелектричних поверхонь

Subject Terms: Multiphoton ionization, Кремнієвий зонд, Кремниевый зонд, Silicon probe, Многофотонная ионизация, Atomic-force microscopy, Triboelectricity, Атомно-силова мікроскопія, Багатофотонна іонізація, Трибоелектрика, Трибоэлектричество, Dielectric surface, Атомно-силовая микроскопия, Диэлектрическая поверхность, Діелектрична поверхня

File Description: application/pdf

Access URL: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36034

Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно - силового мікроскопу діелектричних поверхонь ; Механизм возникновения и нейтрализация остаточного трибоэлектричества при сканировании кремниевым зондом атомно - силового микроскопа диэлектрических поверхностей ; Mechanism of Origin and Neutralization of Residual Triboelectricity at Scanning of Dielectric Surfaces by a Silicon Probe of the Atomic - force Microscope

Authors: Бондаренко, М.О., Білокінь, С.О., Антонюк, В.С., Бондаренко, Ю.Ю.

Subject Terms: Атомно-силова мікроскопія, Трибоелектрика, Діелектрична поверхня, Кремнієвий зонд, Багатофотонна іонізація, Атомно-силовая микроскопия, Трибоэлектричество, Диэлектрическая поверхность, Кремниевый зонд, Многофотонная ионизация, Atomic-force microscopy, Triboelectricity, Dielectric surface, Silicon probe, Multiphoton ionization

File Description: application/pdf

Relation: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36034

Availability: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36034