Фрактальная фильтрация микроскопических изображений

Συγγραφείς: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Должиков, Сергей Владимирович, Войтенко, Олег Валерьевич, Глухов, Алексей Петрович

Πηγή: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 3/2. С. 71-76

Θεματικοί όροι: микроскопические изображения, фрактальная размерность, спектральная плотность, фрактальная фильтрация, металлические сплавы аморфные

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: koha:001131995; https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001131995

Διαθεσιμότητα: https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001131995

Фрактальный анализ и фильтрация изображений наноструктур

Συγγραφείς: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Должиков, Сергей Владимирович

Πηγή: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 117-118

Θεματικοί όροι: ДВФУ (труды преподавателей), фрактальный анализ изображений, фильтрация изображений, наноструктуры

Relation: vtls:000879907; https://openrepository.ru/article?id=110849

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=110849

Модификация спектральных плотностей изображений фрактальных наноструктур

Συγγραφείς: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Пустовалов, Евгений Владиславович

Πηγή: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 119-120

Θεματικοί όροι: ДВФУ (труды преподавателей), фрактальные изображения наноструктур, аморфные металлические материалы, модификация спектральных плотностей

Relation: vtls:000879902; https://openrepository.ru/article?id=110848

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=110848

Модификация спектральных плотностей изображений фрактальных наноструктур

Συγγραφείς: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Пустовалов, Евгений Владиславович

Πηγή: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 119-120

Όροι ευρετηρίου: ДВФУ (труды преподавателей), фрактальные изображения наноструктур, аморфные металлические материалы, модификация спектральных плотностей, статья из сборника

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/110848uri

Фрактальный анализ и фильтрация изображений наноструктур

Συγγραφείς: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Должиков, Сергей Владимирович

Πηγή: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 117-118

Όροι ευρετηρίου: ДВФУ (труды преподавателей), фрактальный анализ изображений, фильтрация изображений, наноструктуры, статья из сборника

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/110849uri