Изучение неоднородности структуры ультрамелкозернистой меди на основе анализа относительных энергий границ зерен

Συγγραφείς: Chikunova, N. S., Stolbovsky, A. V., Blinov, I. V.

Θεματικοί όροι: СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ, ULTRAFINE-GRAINED STRUCTURE, RELATIVE GRAIN BOUNDARY ENERGY, УЛЬТРАМЕЛКОЗЕРНИСТАЯ СТРУКТУРА, ИНТЕНСИВНАЯ ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ, SEVERE PLASTIC DEFORMATION, SCANNING TUNNELING MICROSCOPY, ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ЭНЕРГИЯ ГРАНИЦ ЗЕРЕН

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/142292

Метод картирования относительной энергии границ зерен в ультрамелкозернистых материалах на основе данных сканирующей туннельной микроскопии

Συγγραφείς: Chikunova, Natalya S., Stolbovsky, Alexey V., Blinov, Ilya V., Falakhutdinov, Ruslan M., Sudakova, Svetlana A., Istomina, Anastasiya Yu.

Θεματικοί όροι: СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА, ГРАНИЦЫ ЗЕРЕН, СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ, GRAIN BOUNDARIES, RELATIVE GRAIN BOUNDARY ENERGY, SUBMICROCRYSTALLINE STRUCTURE, ИНТЕНСИВНАЯ ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ, SEVERE PLASTIC DEFORMATION, SCANNING TUNNELING MICROSCOPY, ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ЭНЕРГИЯ ГРАНИЦ ЗЕРЕН

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/128864

Влияние динамического канально-углового прессования на относительную энергию границ зерен в гафниевой бронзе

Συγγραφείς: Falahutdinov, R.M., Popov, V.V., Sudakova, S.A., Shorokhov, E.V., Gaan, K.V.

Θεματικοί όροι: УДК 620.186.8, hafnium bronze, интенсивная пластическая деформация, сканирующая туннельная микроскопия, scanning tunneling microscopy, относительная свободная энергия, гафниевая бронза, severe plastic deformation, relative free energy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://dspace.susu.ru/xmlui/handle/00001.74/62739

Equilibrium Concentration of Kinks on the SB Steps of the Si(100) Surface

Συγγραφείς: Yesin, Michail Yu., Teys, S. A., Nikiforov, Alexander I.

Πηγή: Journal of surface investigation: X-ray, synchrotron and neutron techniques. 2022. Vol. 16, № 1. P. 140-144

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная микроскопия, 02 engineering and technology, 0210 nano-technology, ступенчатые изломы, 01 natural sciences, температурная зависимость, 0104 chemical sciences

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001002743

МЕТОД СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ В ИССЛЕДОВАНИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ ПРИМЕСНОГО КРЕМНИЯ

Θεματικοί όροι: Кремний, Атомно-силовая микроскопия, примесный кремний, Сканирующая туннельная микроскопия

Изучение неоднородности структуры ультрамелкозернистой меди на основе анализа относительных энергий границ зерен ; Study of The Inhomogeneity of The Structure of Ultrafine Grained Copper Based on The Analysis of The Relative Energies of Grain Boundaries

Συγγραφείς: Чикунова, Н. С., Столбовский, А. В., Блинов, И. В., Chikunova, N. S., Stolbovsky, A. V., Blinov, I. V.

Θεματικοί όροι: УЛЬТРАМЕЛКОЗЕРНИСТАЯ СТРУКТУРА, ИНТЕНСИВНАЯ ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ, СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ, ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ЭНЕРГИЯ ГРАНИЦ ЗЕРЕН, ULTRAFINE-GRAINED STRUCTURE, SEVERE PLASTIC DEFORMATION, SCANNING TUNNELING MICROSCOPY, RELATIVE GRAIN BOUNDARY ENERGY

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: XXIII Международная научно-техническая Уральская школа-семинар металловедов-молодых ученых. — Екатеринбург, 2025; http://elar.urfu.ru/handle/10995/142292

Διαθεσιμότητα: http://elar.urfu.ru/handle/10995/142292

MODELING OF INTERACTION OF GOLD AND GOLD-COPPER NANOPARTICLES WITH HYDROGEN

Πηγή: Химическая безопасность / Chemical Safety Science. 3:18-31

Θεματικοί όροι: адсорбция, наночастицы, медь, взаимодействие, сканирующая туннельная микроскопия, золото, биметаллы, водород, теория функционала плотности, Оже-спектроскопия, моделирование

Применение сканирующей туннельной микроскопии для оценки степени неравновесности границ зерен в никеле, полученном кручением под высоким давлением

Συγγραφείς: Osinnikov, E. V., Blinov, I.V., Istomina, A.Yu., Popov, V.V.

Θεματικοί όροι: никель, nickel, УДК 620.186.8, интенсивная пластическая деформация, сканирующая туннельная микроскопия, scanning tunneling microscopy, относительная свободная энергия, severe plastic deformation, relative free energy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://dspace.susu.ru/xmlui/handle/00001.74/46686

ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПОКРЫТИЙ ИЗ ПЛАТИНОВЫХ И БОРОРГАНИЧЕСКИХ НАНОЧАСТИЦ, НАНЕСЕННЫХ НА ПОВЕРХНОСТЬ ВЫСОКООРИЕНТИРОВАННОГО ПИРОЛИТИЧЕСКОГО ГРАФИТА

Συγγραφείς: Kharitonov V., A., Sarvadii S. Yu., Grishin M., V.

Πηγή: Химическая безопасность / Chemical Safety Science. 2:45-56

Θεματικοί όροι: карбораны, высокоориентированный пиролитический графит, сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия, атомно-силовая микроскопия, наноструктурированные покрытия, платина

Oxygen-Induced Changes of the Au30Pd70(110) Surface Structure and Composition under Increasing O2 Pressure

Συγγραφείς: Stéphanie Garaudée, M.C. Saint-Lager, Aude Bailly, Francisco J. Cadete Santos Aires, O. Robach, Eric Ehret, M. A. Languille

Συνεισφορές: Saint-Lager, Marie-Claire, Surfaces, Interfaces et Nanostructures (NEEL - SIN), Institut Néel (NEEL), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 )-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 ), Institut de recherches sur la catalyse et l'environnement de Lyon (IRCELYON), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratory for Catalytic Research, Tomsk State University Tomsk, Epitaxie et couches minces (NEEL- EpiCM), Nanostructures et Rayonnement Synchrotron (NRS), Modélisation et Exploration des Matériaux (MEM), Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 )-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 )-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)

Πηγή: The Journal of Physical Chemistry C. 2018. Vol. 122, № 39. P. 22588-22596

Θεματικοί όροι: кислород, палладий, сканирующая туннельная микроскопия, золото, [CHIM.CATA] Chemical Sciences/Catalysis, [PHYS.PHYS.PHYS-CHEM-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Chemical Physics [physics.chem-ph], [CHIM.CATA]Chemical Sciences/Catalysis, 02 engineering and technology, сверхвысокий вакуум, 0210 nano-technology, 01 natural sciences, [PHYS.PHYS.PHYS-CHEM-PH] Physics [physics]/Physics [physics]/Chemical Physics [physics.chem-ph], 0104 chemical sciences

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.jpcc.8b07068
https://hal.science/hal-01942824v1
https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.8b07068
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000790018

Magneto-Spin–Orbit Graphene: Interplay between Exchange and Spin–Orbit Couplings

Συγγραφείς: Mikhail M. Otrokov, Arthur Ernst, A. A. Rybkina, Andrés Arnau, Vladimir Yu. Voroshnin, A. E. Petukhov, I. I. Klimovskikh, Evgueni V. Chulkov, Artem G. Rybkin, M. V. Filianina, Alexander M. Shikin, Igor P. Rusinov, Oleg Yu. Vilkov

Συνεισφορές: German Research Foundation, Ministerio de Ciencia e Innovación (España), Universidad del País Vasco, Ministerio de Economía y Competitividad (España), Tomsk State University, Ministry of Education and Science of the Russian Federation, Saint Petersburg State University, German-Russian Interdisciplinary Science Center, German Academic Exchange Service, Helmholtz-Zentrum Berlin for Materials and Energy, Consejo Superior de Investigaciones Científicas [https://ror.org/02gfc7t72]

Πηγή: Digital.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
instname
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Nano Letters
Nano letters. 2018. Vol. 18, № 3. P. 1564-1574

Θεματικοί όροι: Electronic structure, электронная структура, фотоэмиссионная спектроскопия с угловым и спиновым разрешением, Angle- and spin-resolved photoemission spectroscopy, сканирующая туннельная микроскопия, спин-орбитальная связь, Spin−orbit and exchange coupling, 7. Clean energy, 01 natural sciences, графен, обменная связь, 0103 physical sciences, Ab initio calculations, Graphene, Scanning tunneling microscopy

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29365269
http://hdl.handle.net/10261/178160
https://europepmc.org/abstract/MED/29365269
http://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2018NanoL..18.1564R/abstract
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29365269
https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acs.nanolett.7b01548
https://core.ac.uk/display/158964581
https://pure.mpg.de/pubman/faces/ViewItemOverviewPage.jsp?itemId=item_3314720
http://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-28EB-2
http://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-28ED-0
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000789474

Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная спектроскопия, тонкие пленки, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067

О «технологических» свойствах наноразмерных пленок никеля и меди

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная микроскопия, наноразмерные пленки никеля и меди, фрактальная размерность, нанорельеф, вольт-амперная характеристика

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/34025

МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОРАЗМЕРНОГО ЗОЛОТА В СУЛЬФИДАХ ЧЕРНОСЛАНЦЕВЫХ ТОЛЩ

Θεματικοί όροι: ионно-плазменное травление, сканирующая туннельная микроскопия, химическое травление, сульфиды, дислокации, блочность, рентгеноспектральный анализ, нанозолото

Метод картирования относительной энергии границ зерен в ультрамелкозернистых материалах на основе данных сканирующей туннельной микроскопии ; METHOD OF MAPPING THE RELATIVE GRAIN BOUNDARY ENERGY OF ULTRAFINE GRAINED MATERIALS BASED ON SCANNING TUNNELING MICROSCOPY DATA

Συγγραφείς: Чикунова, Н. С., Столбовский, А. В., Блинов, И. В., Фалахутдинов, Р. М., Судакова, С. А., Истомина, А. Ю., Chikunova, Natalya S., Stolbovsky, Alexey V., Blinov, Ilya V., Falakhutdinov, Ruslan M., Sudakova, Svetlana A., Istomina, Anastasiya Yu.

Θεματικοί όροι: СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА, ИНТЕНСИВНАЯ ПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ, ГРАНИЦЫ ЗЕРЕН, СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ, ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ЭНЕРГИЯ ГРАНИЦ ЗЕРЕН, SUBMICROCRYSTALLINE STRUCTURE, SEVERE PLASTIC DEFORMATION, GRAIN BOUNDARIES, SCANNING TUNNELING MICROSCOPY, RELATIVE GRAIN BOUNDARY ENERGY

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: XXII международная научно-техническая Уральская школа-семинар металловедов-молодых ученых. — Екатеринбург, 2023; http://elar.urfu.ru/handle/10995/128864

Διαθεσιμότητα: http://elar.urfu.ru/handle/10995/128864

MULTILAYERED PERIODICAL STRUCTURES WITH ELASTICALLY STRAINED GESISN LAYERS AND GESISN NANOISLANDS ; УПРУГОНАПРЯЖЕННЫЕ СЛОИ И НАНООСТРОВКИ GESISN В МНОГОСЛОЙНЫХ ПЕРИОДИЧЕСКИХ СТРУКТУРАХ

Συγγραφείς: V. A. Timofeev, A. I. Nikiforov, A. R. Tuktamyshev, A. A. Bloshkin, V. I. Mashanov, S. A. Teys, I. D. Loshkarev, N. A. Baidakova, В. А. Тимофеев, А. И. Никифоров, А. Р. Туктамышев, А. А. Блошкин, В. И. Машанов, С. А. Тийс, И. Д. Лошкарев, Н. А. Байдакова

Πηγή: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 20, № 1 (2017); 38-44 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 20, № 1 (2017); 38-44 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2017-1

Θεματικοί όροι: зонная диаграмма, nanoislands, epitaxy, diffraction, scanning tunnel microscopy, X−ray diffractometry, photoluminescence, band diagram, наноостровки, эпитаксия, дифракция, сканирующая туннельная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия, фотолюминесценция

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/244/211; Soref R. A., Perry C. H. Predirect bandgap of the new semiconductor SiGeSn // J. Appl. Phys. − 1991. − V. 69, N 1. − P. 539—541. DOI:10.1063/1.347704; Moontragoon P., Ikonić Z., Harrison P. Band structure calculation of Si—Ge—Sn alloys: achieving direct bandgap materials // Semicond. Sci. Technol. − 2007. − V. 22, N 7. − P. 742—748. DOI:10.1088/0268−1242/22/7/012; Du W., Ghetmiri S. A., Conley B. R., Mosleh A., Nazzal A., Soref R. A., Sun G., Tolle J., Margetis J., Naseem H. A., Yu S.−Q. Competition of optical transitions between direct and indirect bandgaps in Ge1−xSnx // Appl. Phys. Lett. − 2014. − V. 105, N 5. − P. 051104−1—4. DOI:10.1063/1.4892302; Senaratne C. L., Gallagher J. D., Aoki T., Kouvetakis J., Menéndez J. Advances in light emission from group−IV alloys via lattice engineering and n−type doping based on custom−designed chemistries // Chem. Mater. − 2014. − V. 26, N 20. − P. 6033—6041. DOI:10.1021/cm502988y; Wirths S., Buca D., Mantl S. Si—Ge—Sn alloys: From growth to applications // Progress in crystal growth and characterization of materials. − 2016. − V. 62, N 1. − P. 1—39. DOI:10.1016/j.pcrysgrow.2015.11.001; Wirths S., Geiger R., von den Driesch N., Mussler G., Stoica T., Mantl S., Ikonic Z., Luysberg M., Chiussi S., Hartman J. M., Sigg H., Faist J., Buca D., Grützmacher D. Lasing in direct−bandgap GeSn alloy grown on Si // Nature Photonics. − 2015. − V. 9. − P. 88—92. DOI:10.1038/nphoton.2014.321; Asano T., Terashima T., Yamaha T., Kurosawa M., Takeuchi W., Taoka N., Nakatsuka O., Zaima S. Epitaxial growth and crystalline properties of Ge1−x−ySixSny on Ge(001) substrates // Solid−State Electronics. − 2015. − V. 110. − P. 49—53. DOI:10.1016/j.sse.2015.01.006; Esteves R. J. A., Hafiz S., Demchenko D. O., Özgur Ü., Arachchige I. U. Ultra−small Ge1−xSnx quantum dots with visible photoluminescence // Chem. Commun. − 2016. − V. 52, N 78. − P. 11665—11668. DOI:10.1039/c6cc04242b; Wirths S., Tiedemann A. T., Ikonic Z., Harrison P., Holländer B., Stoica T., Mussler G., Myronov M., Hartmann J. M., Grützmacher D., Buca D., Mantl S. Band engineering and growth of tensile strained Ge/(Si)GeSn heterostructures for tunnel field effect transistors // Appl. Phys. Lett. − 2013. − V. 102, N 19. − P. 192103−1—4. DOI:10.1063/1.4805034; von den Driesch N., Stange D., Wirths S., Mussler G., Holländer B., Ikonic Z., Hartmann J. M., Stoica T., Mantl S., Grützmacher D., Buca D. Direct bandgap group IV epitaxy on Si for laser applications // Chem. Mater. − 2015. − V. 27, N 13. − P. 4693—4702. DOI:10.1021/acs.chemmater.5b01327; Kato K., Asano T., Taoka N., Sakashita M., Takeuchi W., Nakatsuka O., Zaima S. Robustness of Sn precipitation during thermal oxidation of Ge1−xSnx on Ge(001) // Jpn. J. Appl. Phys. − 2014. − V. 53, N 8S1. − P. 08LD04−1—8. DOI:10.7567/JJAP.53.08LD04; Taoka N., Asano T., Yamaha T., Terashima T., Nakatsuka O., Costina I., Zaumseil P., Capellini G., Zaima S., Schroeder T. Non− uniform depth distributions of Sn concentration induced by Sn migration and desorption during GeSnSi layer formation // Appl. Phys. Lett. − 2015. − V. 106, N 6. − P. 061107−1—5. DOI:10.1063/1.4908121; van de Walle C. G. Band lineups and deformation potentials in the model−solid theory // Phys. Rev. B. − 1989. − V. 39, N 3. − P. 1871—1883. DOI:10.1103/PhysRevB.39.1871; El Kurdi M., Sauvage S., Fishman G., Boucaud P. Band− edge alignment of SiGe/Si quantum wells and SiGe/Si self−assembled islands // Phys. Rev. B. − 2006. − V. 73, N 19. − P. 195327−1—9. DOI:10.1103/PhysRevB.73.195327; Jaros M. Simple analytic model for heterojunction band offsets // Phys. Rev. B. − 1988. − V. 37, N 12. − P. 7112—7114. DOI:10.1103/PhysRevB.37.7112; Moontragoon P., Soref R., Ikonic Z. The direct and indirect bandgaps of unstrained SixGe1−x−ySny and their photonic device applications // J. Appl. Phys. − 2012. − V. 112, N 7. − P. 073106−1—8. DOI:10.1063/1.4757414; Fischer I. A., Wendav T., Augel L., Jitpakdeebodin S., Oliveira F., Benedetti A., Stefanov S., Chiussi S., Capellini G., Busch K., Schulze J. Growth and characterization of SiGeSn quantum well photodiodes // Optics Express. − 2015. − V. 23, N 19. − P. 25048—25057. DOI:10.1364/OE.23.025048; Attiaoui A., Moutanabbir O. Indirect−to−direct band gap transition in relaxed and strained Ge1−x−ySixSny ternary alloys // J. Appl. Phys. − 2014. − V. 116, N 6. − P. 063712−1—15. DOI:10.1063/1.4889926; Тимофеев В. А., Никифоров А. И., Туктамышев А. Р., Есин М. Ю., Машанов В. И., Гутаковский А. К., Байдакова Н. А. Напряженные многослойные структуры с псевдоморфными слоями GeSiSn // Физика и техника полупроводников. − 2016. − Т. 50, № 12. − С. 1610—1614.; Nikiforov A. I., Mashanov V. I., Timofeev V. A., Pchelyakov O. P., Cheng H.−H. Reflection high energy electron diffraction studies on SixSnyGe1−x−y on Si(100) molecular beam epitaxial growth // Thin Solid Films. − 2014. − V. 557. − P. 188—191. DOI:10.1016/j. tsf.2013.11.128; https://met.misis.ru/jour/article/view/244

Διαθεσιμότητα: https://met.misis.ru/jour/article/view/244
https://doi.org/10.17073/1609-3577-2017-1-38-44

Влияние методов измельчения структуры на распределение по размерам и энергию внутренних границ раздела стали 12ГБА ; An influence of grain refinement method on grain size and internal inerface energy distributions of steel 12GBA

Συγγραφείς: Шумакова, Д. А., Кузнецов, Павел Викторович, Рахматулина, Т. В.

Θεματικοί όροι: измельчение, структуры, размеры, энергия, внутренние границы, стали, сканирующая туннельная микроскопия

Relation: Материалы и технологии новых поколений в современном материаловедении : сборник трудов Международной конференции, г. Томск, 9-11 июня 2016 г. — Томск, 2016.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/31040

Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/31040

Vibrational spectroscopy and theory of alkali metal adsorption and co-adsorption on single-crystal surfaces

Συγγραφείς: Antonio Politano, Eugene V. Chulkov, Gennaro Chiarello, Pedro M. Echenique, Giorgio Benedek

Συνεισφορές: Alexander von Humboldt Foundation, Ikerbasque Basque Foundation for Science, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики металлов

Πηγή: Digital.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
instname
Surface Science Reports. 2013. Vol. 68, № 3/4. P. 305-389

Θεματικοί όροι: адсорбция, щелочные металлы, спектроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, оже-спектроскопия электронная, теория функционала плотности, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, десорбция термическая, электронные возбуждения поверхностные, монокристаллические подложки, дифракция быстрых электронов, 0103 physical sciences, электронный газ двумерный, генерация второй гармоники, квантовые ямы, 0210 nano-technology

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://hdl.handle.net/10261/102565
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167572913000216
https://digital.csic.es/handle/10261/102565
http://dipc.ehu.es/etxenike/admin/documentos/archivos/publicaciones/419SSR2013.pdf
http://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2013SurSR..68..305P/abstract
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167572913000216
https://iris.unical.it/handle/20.500.11770/148077
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000464359

Morphology, Structure, and Optical Properties of Semiconductor Films with GeSiSn Nanoislands and Strained Layers

Συγγραφείς: Timofeev, Vyacheslav, Nikiforov, Alexandr, Tuktamyshev, Artur, Mashanov, Vladimir, Yesin, Michail, Bloshkin, Aleksey

Πηγή: Nanoscale Res Lett
Nanoscale Research Letters, Vol 13, Iss 1, Pp 1-8 (2018)
Nanoscale research letters. 2018. Vol. 13. P. 29 (1-8)

Θεματικοί όροι: Nano Express, эпитаксия, сканирующая туннельная микроскопия, фотолюминесценция, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Nanoislands, GeSiSn layer, оптические свойства, Band diagram, Diffraction, Epitaxy, Photoluminescence, Scanning tunnel microscopy, Segregation, Superstructure, 0103 physical sciences, TA401-492, полупроводниковые пленки, 0210 nano-technology, дифракция, Materials of engineering and construction. Mechanics of materials

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://nanoscalereslett.springeropen.com/track/pdf/10.1186/s11671-017-2429-6
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29352352
https://doaj.org/article/8c2423975ed248049413341a2dcf51a9
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29352352/
https://nanoscalereslett.springeropen.com/articles/10.1186/s11671-017-2429-6
https://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2018NRL....13...29T/abstract
https://link.springer.com/article/10.1186/s11671-017-2429-6
http://europepmc.org/abstract/MED/29352352
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29352352
https://hdl.handle.net/10281/415100
https://doi.org/10.1186/s11671-017-2429-6
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000659943

(Tl, Au)/Si(1 1 1)√7×√7 2D compound: an ordered array of identical Au clusters embedded in Tl matrix

Συγγραφείς: Hsing, Cheng-Rong, Wei, Ching-Ming, Eremeev, Sergey V., Bondarenko, Leonid V., Tupchaya, Alexandra Y., Gruznev, Dimitry V., Zotov, Andrey V., Saranin, Alexander A., Mihalyuk, Alexey N.

Πηγή: Journal of physics: Condensed matter. 2018. Vol. 30, № 2. P. 025002 (1-8)

Θεματικοί όροι: таллий, сканирующая туннельная микроскопия, золото, фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением, метод функционала плотности, взаимодействие атомных частиц с твердым телом, кремний

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000789469