Showing 1 - 19 results of 19 for search '"РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ МЕТОД"', query time: 0.50s Refine Results
  1. 1
  2. 2
    Academic Journal

    Source: Measurement Standards. Reference Materials; Том 20, № 2 (2024); 99-114 ; Эталоны. Стандартные образцы; Том 20, № 2 (2024); 99-114

    File Description: application/pdf

    Relation: https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/491/338; Lelevic A., Walsh F. C. Electrodeposition of Ni-P composite coatings: A review // Surface and Coatings Technology. 2019. Vol. 378. P. 198–220. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2019.07.027; Whiteside P. J. D., Chininis J. A., Hunt H. K. Techniques and challenges for characterizing metal thin films with applications in photonics // Coatings. 2016. № 6. P. 35–61. https://doi.org/10.3390/coatings6030035; Handbook of practical X-Ray fluorescence analysis / B. Beckhoff [et al.]. Berlin: Springer-Verlag, 2006. 863 p.; Revenko A. G., Tsvetyansky A. L., Eritenko A. N. X-Ray fluorescence analysis of solid-state films, layers, and coatings // Radiation Physics and Chemistry. 2022. Vol. 197. 110157. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110157; Biligiri S. Coating Thickness measurement challenges using XRF Technology // Metal Finishing. 2007. № 10. P. 33–36.; Ильин Н. П. Альтернативный вариант рентгенофлуоресцентного анализа // Журнал аналитической химии. 2011. Т. 66, № 10. С. 1012–1035.; Определение рентгенофлуоресцентным методом поверхностной плотности нанослоев хрома / Н. И. Машин [и др.] // Журнал прикладной спектроскопии. 2013. Т. 80, № 6. С. 941–945.; Машин Н. И., Черняева Е. А., Туманова А. Н. Определение поверхностной плотности нанослоев ванадия, нанесенных на различные подложки, рентгенофлуоресцентным методом // Неорганические материалы. 2015. Т. 51, № 1. С. 44–48. https://doi.org/10.7868/S0002337X15010121; Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных систем V–Cr / Н. И. Машин [и др.] // Журнал аналитической химии. 2020. Т. 75, № 2. С. 123–131. https://doi.org/10.31857/S0044450219120089; Reference-free X-Ray fluorescence analysis using well-known polychromatic synchrotron radiation / A. Wahlisch [et al.] // Journal of Analytical Atomic Spectrometry. 2023. № 38. P. 1865–1873. https://doi.org/10.1039/d3ja00109a; Казанцев В. В., Медведевских С. В., Васильев А. С. Государственный первичный эталон единиц поверхностной плотности и массовой доли элементов в покрытиях ГЭТ 168-2015 // Измерительная техника. 2018. № 9. С. 17–19. https://doi.org/10.32446/0368–1025it-2018-9-17-19; Государственный вторичный эталон единиц массовой доли и массовой (молярной) концентрации металлов в жидких и твердых веществах и материалах / Е. М. Горбунова [и др.] // Измерительная техника. 2013. № 7. С. 11–13.; Sitko R. Determination of thickness and composition of thin films by X-Ray fluorescence spectrometry using theoretical influence coefficient algorithms // X-Ray Spectrometry. 2008. Vol. 37, № 3. P. 265–272. https://doi.org/10.1002/xrs.1012; van Grieken R., Markowicz A. Handbook of X-Ray spectrometry. New York : CRC Press, 2001. 1016 p.; https://www.rmjournal.ru/jour/article/view/491

  3. 3
  4. 4
  5. 5
  6. 6
  7. 7
  8. 8
  9. 9
  10. 10
  11. 11
  12. 12
  13. 13
  14. 14
  15. 15
  16. 16
  17. 17
  18. 18
  19. 19

    Source: Международная конференция "Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций" ; X Международная конференция "Химия нефти и газа" : тезисы докладов. Томск, 2018. С. 702

    File Description: application/pdf