СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ КАК МЕТОД ИЗУЧЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ

Authors: Ясников, И., Нагорнов, Ю., Горбачев, И., Микеев, Р., Садовников, П., Шубчинская, Н., Аминаров, А.

Subject Terms: ЭЛЕКТРОННАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, МИКРОКРИСТАЛЛЫ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ, МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОКРИСТАЛЛОВ

File Description: text/html

Availability: http://cyberleninka.ru/article/n/skaniruyuschaya-elektronnaya-mikroskopiya-kak-metod-izucheniya-mikroskopicheskih-obektov-elektroliticheskogo-proishozhdeniya
http://cyberleninka.ru/article_covers/15360531.png

Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения микроскопических объектов электролитического происхождения

Source: Фундаментальные исследования.

Subject Terms: ЭЛЕКТРОННАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, МИКРОКРИСТАЛЛЫ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ, МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОКРИСТАЛЛОВ

File Description: text/html

Access URL: http://cyberleninka.ru/article_covers/15360531.png
http://cyberleninka.ru/article/n/skaniruyuschaya-elektronnaya-mikroskopiya-kak-metod-izucheniya-mikroskopicheskih-obektov-elektroliticheskogo-proishozhdeniya