-
1Academic Journal
Συγγραφείς: V. V. Vengerenko, A. V. Inyutin, В. В. Венгеренко, А. В. Инютин
Πηγή: Informatics; Том 21, № 3 (2024); 63-79 ; Информатика; Том 21, № 3 (2024); 63-79 ; 2617-6963 ; 1816-0301
Θεματικοί όροι: сравнение с эталоном, inspection of defects, printed circuit boards, object detection, bounding boxes, neural networks, comparison with reference, контроль дефектов, печатные платы, детекторы объектов, ограничивающие прямоугольники, нейронные сети
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://inf.grid.by/jour/article/view/1308/1090; Карпов, С. Прецизионный контроль печатных плат. Что это? / С. Карпов // Технологии в электронной промышленности. – 2008. – № 7. – С. 37–40.; A GMR–ECT based embedded solution for applications on PCB inspections / M. Cacciola [et al.] // Sensors and Actuators A: Physical. – 2011. – Vol. 167, iss. 1. – P. 25–33.; A survey on industrial vision systems, applications and tools / E. N. Malamas [et al.] // Image and Vision Computing. – 2003. – Vol. 21, iss. 2. – P. 171–188.; Interpretation of texture changes during self-annealing of electroplated copper / W. Q. Zhang [et al.] // Microelectronic Engineering. – 2010. – Vol. 87, iss. 12. – P. 2488–2494.; Lehmann, D. K. X-ray systems for optimizing PCB inspection: x-ray systems are not all equal, and their differences affect the type of defects that can be detected / D. K. Lehmann // Circuits Assembly. – 2002. – Vol. 13, iss. 2. – P. 35–40.; Левданский, А. Оптический и рентгеновский контроль печатных плат при помощи одной системы / А. Левданский // Технологии в электронной промышленности. – 2005. – № 6. – С. 52–54.; Ebayyeh, A. A. R. Abu. A review and analysis of automatic optical inspection and quality monitoring methods in electronics industry / A. A. R. Abu Ebayyeh, A. Mousavi // IEEE Access. – 2020. – Vol. 8. – Р. 183192–183271.; Дудкин, А. А. Техника поиска дефектов и контроля проектных норм на изображении слоев печатных плат / А. А. Дудкин, А. В. Инютин // Искусственный интеллект. – 2006. – № 3. – C. 584–591.; Amjoud, A. B. Object detection using deep learning, CNNs and vision transformers: A review / A. B. Amjoud, M. Amrouch // IEEE Access. – 2023. – Vol. 11. – P. 35479–35516.; https://inf.grid.by/jour/article/view/1308
-
2Academic Journal
-
3Academic Journal
Συγγραφείς: БЕРНС ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ, ЛЫСЕНКО ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ДОЛГОПОЛОВ АНТОН ВАЛЕРЬЕВИЧ, ЖУКОВ ЕГОР ПАВЛОВИЧ
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
4Academic Journal
Πηγή: Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; Том 16 (2017); 34-39
Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 16 (2017); 34-39Θεματικοί όροι: electrostatic method, capacitive method, non-destructive testing, control of defects, polymer materials, УДК 620.179.148, електростатичний метод, ємнісний метод, неруйнівний контроль, контроль дефектів, полімерні матеріали, электростатический метод, емкостный метод, неразрушающий контроль, контроль дефектов, полимерные материалы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/102444
-
5Academic Journal
Συγγραφείς: ГОЛУБЕВ АНДРЕЙ СЕРГЕЕВИЧ, ВЛАСОВ ИЛЬЯ ДМИТРИЕВИЧ
Θεματικοί όροι: ЛАЗЕРНАЯ СВАРКА,КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТЫКОВ,МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ,LASER WELDING,DETECTION OF SEAM’S DEFECTS,MACHINE VISION
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
6Academic Journal
Συγγραφείς: Абульханов, Станислав
Θεματικοί όροι: ФОКУСАТОРЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ДИФРАКЦИОННЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ, ФОРМИРОВАНИЕ ДИФРАКЦИОННОГО МИКРОРЕЛЬЕФА, ЛАЗЕРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, КРОМКА РЕЗЦА, ТЕРМОЗАКАЛКА, ВНУТРЕННЯЯ ПОВЕРХНОСТЬ ТРУБЫ, КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ, ЦЕНТРИРОВАНИЕ ДЕТАЛЕЙ И ОПТИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
7Academic Journal
Πηγή: Известия Самарского научного центра Российской академии наук.
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
8Academic Journal
Πηγή: Известия Самарского научного центра Российской академии наук.
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
9Academic Journal
Συγγραφείς: Баранова, О. С.
Θεματικοί όροι: composite materials, bundle, resonant frequency, control defects, shock method, композиционные материалы, расслоение, резонансные частоты, контроль дефектов, ударный метод, композитні матеріали, розшарування, резонансні частоти, контроль дефектів, ударний метод
Διαθεσιμότητα: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/1326
-
10Electronic Resource
Additional Titles: Експериментальне дослідження електростатичного методу неруйнівного контролю дефектів у полімерних матеріалах
Экспериментальное исследование электростатического метода неразрушающего контроля дефектов в полимерных материалахΣυγγραφείς: БАЖЕНОВ, В. Г.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, ІВІЦЬКИЙ, І. І.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, ІВІЦЬКА, Д. К.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056
Πηγή: Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 16 (2017); 34-39; Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; 2411-2828; 2411-2798
Όροι ευρετηρίου: electrostatic method; capacitive method; non-destructive testing; control of defects; polymer materials, електростатичний метод; ємнісний метод; неруйнівний контроль; контроль дефектів; полімерні матеріали, УДК 620.179.148, электростатический метод; емкостный метод; неразрушающий контроль; контроль дефектов; полимерные материалы, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion