Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем

Συνεισφορές: Костромитин, К. И.

Θεματικοί όροι: ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ, ЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ, ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597

Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем

Συγγραφείς: Кучин, Д. М., Паршин, Д. А.

Συνεισφορές: Костромитин, К. И.

Θεματικοί όροι: ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ, ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ, РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ, ЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Безопасность информационного пространства — 2017. — Екатеринбург, 2018; http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597; https://elibrary.ru/item.asp?id=36842182

Διαθεσιμότητα: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597
https://elibrary.ru/item.asp?id=36842182