МОДЕЛИРОВАНИЕ РАЗРУШЕНИЯ И ДОЛГОВЕЧНОСТИ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПРОВОДНИКОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Authors: Валиев, Камиль, Гольдштейн, Роберт, Житников, Юрий, Махвиладзе, Тариэль, Сарычев, Михаил

Subject Terms: ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ, ПРОВОДЯЩИЕ ЛИНИИ, ДЕГРАДАЦИЯ, ДОЛГОВЕЧНОСТЬ, ПОРООБРАЗОВАНИЕ, ЭРОЗИЯ, ДИФФУЗИЯ ВАКАНСИЙ, СОПРЯЖЕННЫЕ МОДЕЛИ ДИФФУЗИИ ПОД НАПРЯЖЕНИЕМ

File Description: text/html

Availability: http://cyberleninka.ru/article/n/modelirovanie-razrusheniya-i-dolgovechnosti-tonkoplenochnyh-metallicheskih-provodnikov-integralnyh-mikroshem
http://cyberleninka.ru/article_covers/14560113.png