-
1Academic Journal
Authors: Sineglazov, V. M., Kusyk, A. V.
Source: Electronics and Control Systems; Vol. 1 No. 55 (2018); 47-52 ; Электроника и системы управления; Том 1 № 55 (2018); 47-52 ; Електроніка та системи управління; Том 1 № 55 (2018); 47-52 ; 1990-5548
Subject Terms: Automated testing system, computer knowledge assessment, adaptive tests, knowledge testing algorithm, fuzzy logic, UDC 004.421, 004.853(045), Автоматизированная система тестирования, компьютерное оценивание знаний, адаптивные тесты, алгоритм тестирования знаний, УДК 004.421, Автоматизована система тестування, комп’ютерне оцінювання знань, адаптивні тести, алгоритм тестування знань, нечітка математика
File Description: application/pdf
Relation: https://jrnl.nau.edu.ua/index.php/ESU/article/view/12750/17583; https://jrnl.nau.edu.ua/index.php/ESU/article/view/12750
-
2Electronic Resource
Authors: Sineglazov, V. M., Kusyk, A. V.
Source: Electronics and Control Systems; Vol. 1 No. 55 (2018); 47-52; 1990-5548
Index Terms: Automated testing system, computer knowledge assessment, adaptive tests, knowledge testing algorithm, fuzzy logic, UDC 004.421, 004.853(045), info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion