-
1Academic Journal
Subject Terms: Fractalflame, компьютерная графика, Apophysis 3D, фрактальная графика, фракталы, фрактальные изображения, Mandelbulb 3D
File Description: application/pdf
Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/42878
-
2Academic Journal
Authors: Харланович, А. В.
Subject Terms: фракталы, компьютерная графика, фрактальные изображения, фрактальная графика, Mandelbulb 3D, Apophysis 3D, Fractalflame
File Description: application/pdf
Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/42878; 004.1
Availability: https://elib.belstu.by/handle/123456789/42878
-
3Academic Journal
Source: Известия Томского политехнического университета
Subject Terms: предельная чувствительность, статистическая теория, сигналы, сканирующие средства, пространство, вейвлет-характеристики, фрактальная размерность, фрактальные изображения, пороговые уровни, фон, ортогональное разложение, измерительные средства, световые потоки, объекты, вейвлет-базисы, размеры, контрастная чувствительность, обнаружение, оптимальные размеры, покрытия, пороговые значения, оптические средства
File Description: application/pdf
Access URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/248
-
4Academic Journal
Authors: Кащеев, Леонид Борисович, Телюпа, Т. С.
Subject Terms: итерационные алгоритмы, фрактальные изображения, биологические структуры, биоморфы, фрактальная математика, итерационные вычисления
File Description: application/pdf
Relation: Кащеев Л. Б. Графическое отображение итерационных процессов / Л. Б. Кащеев, Т. С. Телюпа // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Системный анализ, управление и информационные технологии. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2007. – № 18. – С. 60-63.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28032
Availability: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28032
-
5Academic Journal
Authors: Слободян, Степан Михайлович
Source: Известия Томского политехнического университета
Subject Terms: сканирующие средства, статистическая теория, пороговые значения, контрастная чувствительность, оптические средства, измерительные средства, предельная чувствительность, обнаружение, пороговые уровни, световые потоки, оптимальные размеры, покрытия, пространство, фрактальная размерность, вейвлет-характеристики, фон, размеры, фрактальные изображения, объекты, ортогональное разложение, сигналы, вейвлет-базисы
File Description: application/pdf
Relation: Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. 2004. Т. 307, № 2; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/248
Availability: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/248
-
6Academic Journal
-
7
Authors: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Пустовалов, Евгений Владиславович
Source: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 119-120
Subject Terms: ДВФУ (труды преподавателей), фрактальные изображения наноструктур, аморфные металлические материалы, модификация спектральных плотностей
Relation: vtls:000879902; https://openrepository.ru/article?id=110848
Availability: https://openrepository.ru/article?id=110848
-
8Electronic Resource
Authors: Грудин, Борис Николаевич, Плотников, Владимир Сергеевич, Смольянинов, Николай Александрович, Пустовалов, Евгений Владиславович
Source: Многомасштабное моделирование процессов и структур в нанотехнологиях, II Всероссийская конференция : сборник тезисов докладов. - С. 119-120