Showing 1 - 1 results of 1 for search '"поверхностные дефекты кристаллической решётки"' Skip to content
  • Login
    • English
    • Ελληνικά
  • EBSCO Discovery Service
Advanced
Page will reload when a filter is removed.
Applied Filters: Also search within the full text of the articles
EXPAND: Remove Filter relatedsubjects
Page will reload when a filter is removed.
Show filters (2)
Also search within the full text of the articles
EXPAND: Remove Filter relatedsubjects
  • Search Results - "поверхностные дефекты кристаллической решётки"
Showing 1 - 1 results of 1 for search '"поверхностные дефекты кристаллической решётки"', query time: 0.41s Refine Results
Title View   Brief View   Detailed View  
  1. 1
    Academic Journal

    Релаксационный спад стимулированного фотонного эха как ключевой параметр оценки условий получения тонкоплёночных активных сред: Relaxation Decay of Stimulated Photon Echo as a Key Parameter for Evaluation of Conditions for Obtaining Thin-Film Active Media

    Source: Vestnik of Volga State University of Technology. Series Radio Engineering and Infocommunication Systems. :61-79

    Subject Terms: thin-film active media for nanoelectronics, поверхностные дефекты кристаллической решётки, зондовая микроскопия, localized trions, время необратимой продольной релаксации Т1, surface defects of the crystal lattice, probe microscopy, фотонное эхо, irreversible longitudinal relaxation time T1, тонкоплёночные активные среды для наноэлектроники, photon echo, 7. Clean energy, локализованные трионы

    Save to List
    Saved in:

Search Tools:

  • RSS Feed
  • Email Search
  • Save Search

Refine Results

Page will reload when a filter is selected or excluded.
Full Text
Peer Reviewed
Clear Filter Also search within the full text of the articles

  • Academic Journals 1 results 1

  • OpenAIRE 1 results 1

Search Options

  • Search History
  • Advanced Search

Find More

  • Browse the Catalog
  • Browse Alphabetically
  • New Items

Need Help?

  • Search Tips
  • Ask a Librarian