Системы полупроводниковой памяти с интеграцией на пластине на основе трехмерных кодов

Subject Terms: основа трехмерных кодов, двухмерные итеративные коды, оперативные запоминающие устройства, система полупроводниковой памяти, трехмерные итеративные коды, кристаллы

File Description: application/pdf

Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719

Оценка ресурсов ОЗУ при контроле технических объектов

Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2020. № 52. С. 104-113

Subject Terms: постоянная времени дифференцирования, устройство контроля, оперативные запоминающие устройства, дифференцирующие цепи, генераторы, управляемые напряжением, спектры

File Description: application/pdf

Access URL: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000737233

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Subject Terms: оперативные запоминающие устройства, криптографическое преобразование информации

File Description: application/pdf

Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/26745

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25696

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Subject Terms: динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=217333

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Subject Terms: встроенные ОЗУ, ОЗУ, оперативные запоминающие устройства, материалы конференций, VHDL, тестирование цифровых устройств, неисправности интерфейсных линий

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=214874

Об эффективности многоуровневой памяти вычислительной системы

Contributors: Томский государственный университет Факультет информатики Кафедра прикладной информатики

Source: Обозрение прикладной и промышленной математики. 2008. Т. 15, вып. 1. С. 117-118

Subject Terms: оперативные запоминающие устройства, вычислительные системы, память

File Description: application/pdf

Access URL: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Subject Terms: оперативные запоминающие устройства, криптографическое преобразование информации

File Description: application/pdf

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=37428

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=34740

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Authors: Степанов, А. В., Иванюк, А. А.

Subject Terms: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, неисправности интерфейсных линий, VHDL, тестирование цифровых устройств, встроенные ОЗУ, ОЗУ

Relation: https://openrepository.ru/article?id=214874

Availability: https://openrepository.ru/article?id=214874

Об эффективности многоуровневой памяти вычислительной системы

Authors: Биматов, Дмитрий Владимирович, Сущенко, Сергей Петрович

Contributors: Томский государственный университет Факультет информатики Кафедра прикладной информатики

Source: Обозрение прикладной и промышленной математики. 2008. Т. 15, вып. 1. С. 117-118

Subject Terms: вычислительные системы, память, оперативные запоминающие устройства

File Description: application/pdf

Relation: vtls:000426067; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Availability: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Системы полупроводниковой памяти с интеграцией на пластине на основе трехмерных кодов

Authors: Романенко, Дмитрий Михайлович

Subject Terms: система полупроводниковой памяти, двухмерные итеративные коды, трехмерные итеративные коды, основа трехмерных кодов, оперативные запоминающие устройства, кристаллы

File Description: application/pdf

Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719; 519.72

Availability: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Authors: Романенко, Дмитрий Михайлович, Галабурда, А. И., Урбанович, Павел Павлович

Subject Terms: криптографическое преобразование информации, оперативные запоминающие устройства

File Description: application/pdf

Relation: https://openrepository.ru/article?id=37428

Availability: https://openrepository.ru/article?id=37428

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем

Authors: Леванцевич, В. А.

Subject Terms: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, тест March С

File Description: application/pdf

Relation: Леванцевич, В. А. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем / В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2019 (ИТС 2019) = Information Teсhnologies and Systems 2019 (ITS 2019) : материалы международной научной конференции, Минск, 30 октября 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2019. – С. 138–139.; https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286

Availability: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Authors: Урбанович, Павел Павлович

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Relation: https://openrepository.ru/article?id=34740

Availability: https://openrepository.ru/article?id=34740

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Authors: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Subject Terms: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест

Relation: Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69.; https://openrepository.ru/article?id=217333

Availability: https://openrepository.ru/article?id=217333

Цифровая схемотехника

Contributors: НТУУ «КПИ», Факультет електронiки, Макаренко, Владимир Васильевич, Гордиенко, Елена Яковлевна

Subject Terms: биполярные транзисторы, полевые транзисторы, МДП-транзисторы, логические элементы, мультивибраторы, триггеры, счетчики, регистры, оперативные запоминающие устройства

File Description: application/msword

Relation: Цифровая схемотехника [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам для иностранных студентов направлений подготовки 6.050803 «Акустотехника», 6.050903 «Телекоммуникации» / НТУУ «КПИ»; сост. В. В Макаренко, Е. Я. Гордиенко. − Электронные текстовые данные (1 файл: 18,3 Мбайт). – Киев : НТУУ «КПИ», 2011. - Название с экрана.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/1042

Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/1042

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Authors: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Index Terms: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, Статья

URL: http://hdl.handle.net/rour/217333uri

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Authors: Степанов, А. В., Иванюк, А. А.

Index Terms: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, неисправности интерфейсных линий, VHDL, тестирование цифровых устройств, встроенные ОЗУ, ОЗУ, Article

URL: http://hdl.handle.net/rour/214874uri

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Authors: Романенко, Дмитрий Михайлович, Галабурда, А. И., Урбанович, Павел Павлович

Index Terms: криптографическое преобразование информации, оперативные запоминающие устройства, Article

URL: http://hdl.handle.net/rour/37428uri