Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів нектристалічних халькогенідних матеріалів

Source: Scientific Herald of Uzhhorod University.Series Physics; Том 38 (2015); 8-17
Научный вестник Ужгородского университета. Серия Физика; Том 38 (2015); 8-17
Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика; Том 38 (2015); 8-17

Subject Terms: рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS), фотоелектронна спектроскопія з використанням синхротронного випромінювання (SRPES), некристалічні халькогеніди, структурні одиниці, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS), фотоэлектронная спектроскопия с использованием синхротронного излучения (SRPES), некристаллические халькогениды, структурне единицы, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation (SRPES), amorphous chalcogenides, structural units, 539.21:537.1

File Description: application/pdf

Access URL: http://fizyka-visnyk.uzhnu.edu.ua/article/view/110324