-
1Academic Journal
Authors: Килина, М. Л., Буряк, Д. Ю.
Source: System Analysis in Science and Education = Sistemnyj analiz v nauke i obrazovanii; No. 1 (2025); 8-15 ; Системный анализ в науке и образовании; № 1 (2025); 8-15 ; 2071-9612
Subject Terms: нейронные сети, глубокое обучение, обучение с самоконтролем, моделирование маскированного изображения, модель ViT, масочный автоэнкодер, neural networks, deep learning, self-supervised learning, masked image modeling, ViT model, masked autoencoder
File Description: application/pdf
Relation: https://sanse.ru/index.php/sanse/article/view/647/615; https://sanse.ru/index.php/sanse/article/view/647
Availability: https://sanse.ru/index.php/sanse/article/view/647