-
1Academic Journal
Source: Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 2, № 4 (2005); 47-54
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 2, № 4 (2005); 47-54
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 2, № 4 (2005); 47-54Subject Terms: кремнієві фотоелектричні перетворювачі, надійність, дефекти, растрова електронна мікроскопія, антивідбиваюче покриття, silicon solar cells, reliability, defects, scanning electron microscopy, antyreflective coating, 7. Clean energy, кремниевые фотоэлектрические преобразователи, надежность, дефекты, растровая электронная микроскопия, антиотражающее покрытие
File Description: application/pdf
-
2Academic Journal
Authors: Lenkov, S. V., Lukomskyy, D. V., Lykov, A. I., Zubarev, V. V.
Source: Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 1, № 2 (2004); 58-62
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 1, № 2 (2004); 58-62
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 1, № 2 (2004); 58-62Subject Terms: reliability, silicon solar cell, surface texturing, pyramids, antireflective coating, надежность, кремниевые фотоэлектрические преобразователи, текстурирование, пирамиды, антиотражаюкрытиещее по, надійність, кремнієві фотоелектричні перетворювачі, текстурування, піраміди, антивідбиваюче покриття, 7. Clean energy
File Description: application/pdf