-
1Academic Journal
-
2Academic Journal
-
3Report
Subject Terms: electric machines, reliability, отказоустойчивость, computer modeling of electromechanical systems, автоматизированное проектирование, электрические машины, надежность, CAD, fault tolerance, компьютерное моделирование электромеханических систем, технологические отклонения, technological deviations
-
4Academic Journal
Authors: T A Akhverdian, A M Gevorgian, O E Oganesian
Subject Terms: нелинейные модели задержек, non-linear models of delays, time verification, временная верификация, технологические отклонения, technological deviations
Access URL: http://research-journal.org/wp-content/uploads/2011/10/05-3-59.pdf#page=32
https://research-journal.org/en/engineering/razrabotka-metoda-opisaniya-zaderzhek-standartnyx-yacheek-v-cifrovyx-integralnyx-sxemax/ -
5Academic Journal
Authors: Олевский, Виктор Исаакович
Source: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies
Subject Terms: моделирование, асимптотический ряд, преобразования Паде, технологические отклонения, тонкостенная оболочка, УДК 004.942, моделювання, асимптотичний ряд, перетворення Паде, технологічні відхилення, тонкостінна оболонка, modeling, asymptotic series, Pade transforms, technological deviations, thin-walled shell, Indonesia
-
6Academic Journal
Authors: Олевский, В.
Subject Terms: МОДЕЛИРОВАНИЕ, АСИМПТОТИЧЕСКИЙ РЯД, ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ПАДЕ, ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОТКЛОНЕНИЯ, ТОНКОСТЕННАЯ ОБОЛОЧКА
File Description: text/html
-
7Academic Journal
Source: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 4, № 11(70) (2014): Mathematical and information support of computer-integrated control systems; 25-31
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 4, № 11(70) (2014): Математическое и информационное обеспечение компьютерно-интегрированных систем управления; 25-31
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 4, № 11(70) (2014): Математичне та інформаційне забезпечення комп'ютерно-інтегрованих систем управління; 25-31Subject Terms: моделирование, асимптотический ряд, преобразования Паде, технологические отклонения, тонкостенная оболочка, моделювання, асимптотичний ряд, перетворення Паде, технологічні відхилення, тонкостінна оболонка, modeling, asymptotic series, Pade transforms, technological deviations, thin-walled shell, УДК 004.942
File Description: application/pdf
Access URL: http://journals.uran.ua/eejet/article/view/26309