-
1Academic Journal
Authors: Surikov, V. T.
Subject Terms: РЕГИСТРАЦИЯ РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ, ASYMMETRICAL ION OPTICS, DEFLECTORS WITH ANGULAR ION DEFLECTION, NOVEL SYSTEMS FOR REDUCTION OF INTERFERENCES, REGISTRATION OF NANOPARTICLES SIZE, НОВЫЕ ПОМЕХОПОДАВЛЯЮЩИЕ УСТРОЙСТВА, ДЕФЛЕКТОРЫ УГЛОВОГО ОТКЛОНЕНИЯ ИОНОВ, MASS-SPECTROMETRY WITH INDUCTIVELY COUPLED PLASMA, АСИММЕТРИЧНАЯ ИОННАЯ ОПТИКА, МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ
Access URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/142642