-
1Academic Journal
Authors: V. V. Vengerenko, A. V. Inyutin, В. В. Венгеренко, А. В. Инютин
Source: Informatics; Том 21, № 3 (2024); 63-79 ; Информатика; Том 21, № 3 (2024); 63-79 ; 2617-6963 ; 1816-0301
Subject Terms: сравнение с эталоном, inspection of defects, printed circuit boards, object detection, bounding boxes, neural networks, comparison with reference, контроль дефектов, печатные платы, детекторы объектов, ограничивающие прямоугольники, нейронные сети
File Description: application/pdf
Relation: https://inf.grid.by/jour/article/view/1308/1090; Карпов, С. Прецизионный контроль печатных плат. Что это? / С. Карпов // Технологии в электронной промышленности. – 2008. – № 7. – С. 37–40.; A GMR–ECT based embedded solution for applications on PCB inspections / M. Cacciola [et al.] // Sensors and Actuators A: Physical. – 2011. – Vol. 167, iss. 1. – P. 25–33.; A survey on industrial vision systems, applications and tools / E. N. Malamas [et al.] // Image and Vision Computing. – 2003. – Vol. 21, iss. 2. – P. 171–188.; Interpretation of texture changes during self-annealing of electroplated copper / W. Q. Zhang [et al.] // Microelectronic Engineering. – 2010. – Vol. 87, iss. 12. – P. 2488–2494.; Lehmann, D. K. X-ray systems for optimizing PCB inspection: x-ray systems are not all equal, and their differences affect the type of defects that can be detected / D. K. Lehmann // Circuits Assembly. – 2002. – Vol. 13, iss. 2. – P. 35–40.; Левданский, А. Оптический и рентгеновский контроль печатных плат при помощи одной системы / А. Левданский // Технологии в электронной промышленности. – 2005. – № 6. – С. 52–54.; Ebayyeh, A. A. R. Abu. A review and analysis of automatic optical inspection and quality monitoring methods in electronics industry / A. A. R. Abu Ebayyeh, A. Mousavi // IEEE Access. – 2020. – Vol. 8. – Р. 183192–183271.; Дудкин, А. А. Техника поиска дефектов и контроля проектных норм на изображении слоев печатных плат / А. А. Дудкин, А. В. Инютин // Искусственный интеллект. – 2006. – № 3. – C. 584–591.; Amjoud, A. B. Object detection using deep learning, CNNs and vision transformers: A review / A. B. Amjoud, M. Amrouch // IEEE Access. – 2023. – Vol. 11. – P. 35479–35516.; https://inf.grid.by/jour/article/view/1308
-
2Academic Journal
-
3Academic Journal
Authors: БЕРНС ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ, ЛЫСЕНКО ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ДОЛГОПОЛОВ АНТОН ВАЛЕРЬЕВИЧ, ЖУКОВ ЕГОР ПАВЛОВИЧ
File Description: text/html
-
4Academic Journal
Source: Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; Том 16 (2017); 34-39
Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 16 (2017); 34-39Subject Terms: electrostatic method, capacitive method, non-destructive testing, control of defects, polymer materials, УДК 620.179.148, електростатичний метод, ємнісний метод, неруйнівний контроль, контроль дефектів, полімерні матеріали, электростатический метод, емкостный метод, неразрушающий контроль, контроль дефектов, полимерные материалы
File Description: application/pdf
Access URL: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/102444
-
5Academic Journal
Subject Terms: ЛАЗЕРНАЯ СВАРКА,КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ СТЫКОВ,МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ,LASER WELDING,DETECTION OF SEAM’S DEFECTS,MACHINE VISION
File Description: text/html
-
6Academic Journal
Authors: Абульханов, Станислав
Subject Terms: ФОКУСАТОРЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ДИФРАКЦИОННЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ, ФОРМИРОВАНИЕ ДИФРАКЦИОННОГО МИКРОРЕЛЬЕФА, ЛАЗЕРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, КРОМКА РЕЗЦА, ТЕРМОЗАКАЛКА, ВНУТРЕННЯЯ ПОВЕРХНОСТЬ ТРУБЫ, КОНТРОЛЬ ДЕФЕКТОВ, ЦЕНТРИРОВАНИЕ ДЕТАЛЕЙ И ОПТИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ
File Description: text/html
-
7Academic Journal
Source: Известия Самарского научного центра Российской академии наук.
File Description: text/html
-
8Academic Journal
Source: Известия Самарского научного центра Российской академии наук.
File Description: text/html
-
9Academic Journal
Authors: Баранова, О. С.
Subject Terms: composite materials, bundle, resonant frequency, control defects, shock method, композиционные материалы, расслоение, резонансные частоты, контроль дефектов, ударный метод, композитні матеріали, розшарування, резонансні частоти, контроль дефектів, ударний метод
Availability: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/1326
-
10Electronic Resource
Additional Titles: Експериментальне дослідження електростатичного методу неруйнівного контролю дефектів у полімерних матеріалах
Экспериментальное исследование электростатического метода неразрушающего контроля дефектов в полимерных материалахAuthors: БАЖЕНОВ, В. Г.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, ІВІЦЬКИЙ, І. І.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, ІВІЦЬКА, Д. К.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056
Source: Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 16 (2017); 34-39; Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; 2411-2828; 2411-2798
Index Terms: electrostatic method; capacitive method; non-destructive testing; control of defects; polymer materials, електростатичний метод; ємнісний метод; неруйнівний контроль; контроль дефектів; полімерні матеріали, УДК 620.179.148, электростатический метод; емкостный метод; неразрушающий контроль; контроль дефектов; полимерные материалы, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion
