Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем

Contributors: Костромитин, К. И.

Subject Terms: ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ, ЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ, РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ, ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ

File Description: application/pdf

Access URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597

Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем

Authors: Кучин, Д. М., Паршин, Д. А.

Contributors: Костромитин, К. И.

Subject Terms: ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ, ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ, РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ, ЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ

File Description: application/pdf

Relation: Безопасность информационного пространства — 2017. — Екатеринбург, 2018; http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597; https://elibrary.ru/item.asp?id=36842182

Availability: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65597
https://elibrary.ru/item.asp?id=36842182