-
1Academic Journal
Authors: Surikov, V. T.
Subject Terms: РЕГИСТРАЦИЯ РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ, ASYMMETRICAL ION OPTICS, DEFLECTORS WITH ANGULAR ION DEFLECTION, NOVEL SYSTEMS FOR REDUCTION OF INTERFERENCES, REGISTRATION OF NANOPARTICLES SIZE, НОВЫЕ ПОМЕХОПОДАВЛЯЮЩИЕ УСТРОЙСТВА, ДЕФЛЕКТОРЫ УГЛОВОГО ОТКЛОНЕНИЯ ИОНОВ, MASS-SPECTROMETRY WITH INDUCTIVELY COUPLED PLASMA, АСИММЕТРИЧНАЯ ИОННАЯ ОПТИКА, МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ
Access URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/142642
-
2Academic Journal
Authors: Surikov, V. T.
Subject Terms: ДУГООБРАЗНОЕ ОТКЛОНЕНИЕ ИОНОВ, ASYMMETRICAL ION OPTICS, INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MASS-SPECTROMETRY, ARC-SHAPED ION DEFLECTION, АСИММЕТРИЧНАЯ ИОННАЯ ОПТИКА, МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ
File Description: application/pdf
Access URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/50284
-
3Academic Journal
Authors: Surikov, V. T., Pupyshev, A. A.
Subject Terms: ПАРАЛЛЕЛЬНОЕ СМЕЩЕНИЕ ИОНОВ, ДЕФЛЕКТОРЫ, ASYMMETRICAL ION OPTICS, МУЛЬТИПОЛЬНЫЕ ЯЧЕЙКИ, INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MASS-SPECTROMETRY, PARALLEL (OFF-AXIS) SHIFT OF IONS, MULTIPOLE CELLS, DEFLECTORS, АСИММЕТРИЧНАЯ ИОННАЯ ОПТИКА, МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ
File Description: application/pdf
Access URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/42698
-
4Electronic Resource
Authors: Суриков, В. Т., Surikov, V. T.
Index Terms: INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MASS-SPECTROMETRY, ASYMMETRICAL ION OPTICS, ARC-SHAPED ION DEFLECTION, МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ, АСИММЕТРИЧНАЯ ИОННАЯ ОПТИКА, ДУГООБРАЗНОЕ ОТКЛОНЕНИЕ ИОНОВ, Article, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion
URL:
http://hdl.handle.net/10995/50284
Аналитика и контроль. 2015. № 2