Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная спектроскопия, тонкие пленки, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067

Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Συγγραφείς: Лаппо, Алеся Николаевна, Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич

Θεματικοί όροι: тонкие пленки, сканирующая туннельная спектроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV, сканирующая зондовая микроскопия

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067; 539.213.2

Διαθεσιμότητα: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067