-
1Academic Journal
Συγγραφείς: Vashchenko, Vyacheslav, Yatsenko, Irina, Kovalenko, Yuriy, Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.
Πηγή: Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol 22, Iss 4, Pp 444-451 (2019)
Θεματικοί όροι: поверхневий плазмонний резонанс, X-ray reflectometry, Physics, QC1-999, рентгенівська рефлектометрія, sensitivity, 01 natural sciences, чутливість, електронно-променева обробка, еліпсометрія, electron-beam processing, 0103 physical sciences, x-ray reflectometry, atomic-force microscopy, атомно-силова мікроскопія, surface plasmon resonance, ellipsometry
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
2Academic Journal
Συγγραφείς: Demydenko, Maksym Hennadiiovych, Protsenko, Serhii Ivanovych, Tyshchenko, Kostiantyn Volodymyrovych, Fedchenko, Olena Viktorivna
Θεματικοί όροι: оптичні коефіцієнти, співвідно- шення Френеля, генетичні алгоритми, рентгенівська рефлектометрія, нуль-еліпсометрія
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27811
-
3Academic Journal
Συγγραφείς: Демиденко, Максим Геннадійович, Демиденко, Максим Геннадьевич, Demydenko, Maksym Hennadiiovych, Проценко, Сергій Іванович, Проценко, Сергей Иванович, Protsenko, Serhii Ivanovych, Тищенко, Костянтин Володимирович, Тищенко, Константин Владимирович, Tyshchenko, Kostiantyn Volodymyrovych, Федченко, Олена Вікторівна, Федченко, Елена Викторовна, Fedchenko, Olena Viktorivna
Θεματικοί όροι: нуль-еліпсометрія, рентгенівська рефлектометрія, оптичні коефіцієнти, співвідно- шення Френеля, генетичні алгоритми
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Διαθεσιμότητα: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27811