ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ

Πηγή: Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 8, № 3 (2011); 97-107
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 8, № 3 (2011); 97-107
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 8, № 3 (2011); 97-107

Θεματικοί όροι: скануюча мікрохвильова мікроскопія (СММ), резонаторний зонд, добротність, резонансна частота, просторова роздільна здатність (ПРЗ), напівпровідник, діелектрична проникність, сканирующая микроволновая микроскопия (СММ), резонаторный зонд, добротность, резонансная частота, пространственная разрешающая способность (ПРС), полупроводник, диэлектрическая проницаемость, scanning microwave microscopy (SMM), resonator probe, quality factor, resonance frequency, spacial resolving capacity (SRC), semiconductor, dielectric permittivity

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://semst.onu.edu.ua/article/view/118171

Количественный анализ разрешающей способности зондовой сканирующей микроволновой микроскопии

Συγγραφείς: Гордиенко, Ю. Е., Ларкин, С. Ю., Шиян, О. П.

Θεματικοί όροι: зондовая сканирующая микроволновая микроскопия (ЗСММ), резонаторный зонд, пространственная разрешающая способность (ПРС), scanning probe microwave microscopy, resonator probe, spatial resolution

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: http://openarchive.nure.ua/handle/document/310

Διαθεσιμότητα: http://openarchive.nure.ua/handle/document/310