Εμφανίζονται 1 - 4 Αποτελέσματα από 4 για την αναζήτηση '"полупроводниковые оперативные запоминающие устройства"', χρόνος αναζήτησης: 0,46δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Academic Journal

    Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

    Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25696

    Προσθήκη στα αγαπημένα
  2. 2
    Academic Journal

    Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

    Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=34740

    Προσθήκη στα αγαπημένα
  3. 3
    Academic Journal

    Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

    Συγγραφείς: Урбанович, Павел Павлович

    Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: https://openrepository.ru/article?id=34740

    Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=34740

    View record from BASE
    Προσθήκη στα αγαπημένα
  4. 4
    Electronic Resource

    Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

    Συγγραφείς: Урбанович, Павел Павлович

    Όροι ευρετηρίου: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга, Article

    Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/34740uri

    View this record from OAIster
    Προσθήκη στα αγαπημένα

Εργαλεία αναζήτησης: