Model of Digital Image of Metallization Layer of Application Specific Integrated Circuit on Gate-array

Πηγή: Промышленные АСУ и контроллеры.

Θεματικοί όροι: application specific integrated circuits, reverse engineering, параметрическое моделирование изображений, базовый матричный кристалл, обратное проектирование, специализированные интегральные микросхемы, gate-array, parametric image modeling