Mathematical modeling and polarimetry of the thermal stress state in semitransparent solid taking into account the influence of thermal radiation ; Математичне моделювання і поляриметрія термонапруженого стану в частково прозорому тілі з урахуванням впливу теплового випромінювання

Συγγραφείς: Hachkevych, O. R., Matyash, I. Ye., Minaylova, I. A., Mishchuk, O. M., Serdega, B. K., Terlets'kyi, R. F., Brukhal', M. B.

Πηγή: Matematychni Metody Ta Fizyko-Mekhanichni Polya; Том 63, № 4; 81-95 ; Математичні методи та фізико-механічні поля; Том 63, № 4; 81-95

Θεματικοί όροι: semitransparent solids, thermal radiation, heat transfer model, modulation polarimetry in two directions, quartz sample, temperature, stresses, UDC 535.51:535.55:539.3, частково прозорі тверді тіла, теплове випромінювання, модель теплопереносу, модуляційна поляриметрія у двох напрямках, зразок із кварцу, температура, напруження, УДК 535.51:535.55:539.3

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: http://journals.iapmm.lviv.ua/ojs/index.php/MMPMF/article/view/mmpmf2020.63.4.81-95/3528

Διαθεσιμότητα: http://journals.iapmm.lviv.ua/ojs/index.php/MMPMF/article/view/mmpmf2020.63.4.81-95
https://doi.org/10.15407/mmpmf2020.63.4.81-95

Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope

Συγγραφείς: Matyash, I. E., Minaylova, I. A., Mischuk, O. N., Oliinyk, Ostap Olegovych, Serdega, B. K., Tsyganok, B. A.

Πηγή: Electronics and Communications; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Электроника и Связь; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Електроніка та Зв'язок; Том 19, № 2 (2014); 9-22

Θεματικοί όροι: модуляционная поляриметрия, двулучепреломление, тепловой поток, термоупругость, фотоупругий микроскоп, 0103 physical sciences, модуляційна поляриметрія, двопроменезаломлення, тепловий потік, термопружність, фотопружний мікроскоп, modulation polarimetry, birefringence, heat flow, thermoelastisity, photoelastic microscope, 01 natural sciences, 0104 chemical sciences

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elc.kpi.ua/old/article/download/142127/149019
http://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2014E&C....19b...9M/abstract
http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127

Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL ; Modulation-polarization method for internal mechanical stresses measurement in microelectronic structures Si-Al

Συγγραφείς: Олійник, Остап Олегович

Θεματικοί όροι: модуляційна поляриметрія, мікроелектромеханічні системи, оптична анізотропія, механічні напруження, тензорезистивний сенсор тиску, modulation polarimetry, silicon

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Олійник О. О. Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL / О. О. Олійник // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 17 (1189). – С. 3-7.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Διαθεσιμότητα: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв ; Calculation of mechanical stresses based on birefringence measurements in sound conductors of SAW-devices

Συγγραφείς: Олійник, Остап Олегович, Жовнір, Микола Федорович, Циганок, Борис Архипович

Θεματικοί όροι: механічні напруження, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, модуляційна поляриметрія, ніобат літію, лінія затримки, mechanical stress, photoelasticity, sound conductor, SAW-devices, modulation polarimetry, lithium niobate, delay circuit

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Олійник О. О. Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв / О. О. Олійник, М. Ф. Жовнір, Б. А. Циганок // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 7 (1179). – С. 66-71.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Διαθεσιμότητα: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Calculation of mechanical stresses based on birefringence measurements in sound conductors of SAW-devices

Πηγή: Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; Том 7 (2016); 66-71
Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 7 (2016); 66-71

Θεματικοί όροι: mechanical stress, photoelasticity, sound conductor, SAW-devices, modulation polarimetry, lithium niobate, delay circuit, механічні напруження, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, модуляційна поляриметрія, ніобат літію, лінія затримки, УДК 621.3.082.55, 535.568, 531.713.8, механические напряжения, фотоупругость, звукопровод, ПАВ-устройства, модуляционная поляриметрия, ниобат лития, линия задержки

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/93145

Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL

Θεματικοί όροι: оптична анізотропія, модуляційна поляриметрія, мікроелектромеханічні системи, механічні напруження, silicon, тензорезистивний сенсор тиску, modulation polarimetry

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв

Θεματικοί όροι: лінія затримки, модуляційна поляриметрія, SAW-devices, photoelasticity, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, lithium niobate, механічні напруження, mechanical stress, modulation polarimetry, ніобат літію, delay circuit, sound conductor

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії

Συνεισφορές: Вербицький, Володимир Григорович, ELAKPI

Θεματικοί όροι: модуляційна поляриметрія, діоксид олова, сенсори, цеоліти

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Συνεισφορές: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв, ELAKPI

Θεματικοί όροι: вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, photoelastic microscope, the phase measurement, modulation polarimetry, displacement sensor, сенсор переміщення, фотопружний мікроскоп, повышение чувствительности, підвищення чутливості, модуляционная поляриметрия, сенсор перемещения, измерения фазы, the value of the birefringence, фотоупругий микроскоп, величина двопроменезаломлення, sensitivity increase, величина двулучепреломления

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії

Συγγραφείς: Перехода, Андрій Сергійович

Συνεισφορές: Вербицький, Володимир Григорович

Θεματικοί όροι: модуляційна поляриметрія, діоксид олова, цеоліти, сенсори

Περιγραφή αρχείου: 101 с.; application/pdf

Relation: Перехода, А. С. Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Перехода Андрій Сергійович. – Київ, 2018. – 101 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Συγγραφείς: Олійник, Остап Олегович

Συνεισφορές: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

Θεματικοί όροι: підвищення чутливості, величина двопроменезаломлення, вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, фотопружний мікроскоп, сенсор переміщення, sensitivity increase, the value of the birefringence, the phase measurement, modulation polarimetry, photoelastic microscope, displacement sensor, повышение чувствительности, величина двулучепреломления, измерения фазы, модуляционная поляриметрия, фотоупругий микроскоп, сенсор перемещения, 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)

Περιγραφή αρχείου: 22 с.; application/pdf

Relation: Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Modulation-polarization method for internal mechanical stresses measurement in microelectronic structures Si-Al

Additional Titles: Модуляционно-поляризационный метод измерения внутренних механических напряжений в микроэлектронных структурах Si-Al
Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах Si-Al

Συγγραφείς: Олійник, Остап Олегович; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», вул. Політехнічна, 16, корпус №12. Київ, Україна, 03056

Πηγή: Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 17 (2016); 3-7; Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; 2411-2828; 2411-2798

Όροι ευρετηρίου: modulation polarimetry; mechanical stress in the silicon; the mechanical stresses in the Si-Al, УДК 535.5; 535.347, модуляционная поляриметрия; механические напряжения в кремнии; механические напряжения в Si-Al, модуляційна поляриметрія; механічні напруження в кремнії; механічні напруження в Si-Al, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

Σύνδεσμος: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220
http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220/70708
http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220/70708