Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Θεματικοί όροι: транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, материалы конференций, параметрическая надёжность, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=216128

Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Συγγραφείς: Шнейдеров, Е. Н.

Θεματικοί όροι: материалы конференций, параметрическая надёжность, транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН

Relation: https://openrepository.ru/article?id=216128

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=216128

Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Συγγραφείς: Шнейдеров, Е. Н.

Όροι ευρετηρίου: материалы конференций, параметрическая надёжность, транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН, Article

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/216128uri