-
1Academic Journal
Συγγραφείς: S. K. Evstropiev, V. L. Stolyarova, D. V. Bulyga, A. S. Saratovskii, N. B. Knyazyan, G. G. Manukyan
Πηγή: Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики, Vol 25, Iss 3, Pp 387-395 (2025)
Θεματικοί όροι: золь-гель метод, термическая обработка, структурные дефекты, люминесценция, фтор, Information technology, T58.5-58.64
Περιγραφή αρχείου: electronic resource
Relation: https://ntv.elpub.ru/jour/article/view/462; https://doaj.org/toc/2226-1494; https://doaj.org/toc/2500-0373
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://doaj.org/article/82d54a9d33284754bf1435c5cec2e9a6
-
2Academic Journal
Συγγραφείς: B. A. Najafov, Sh. N. Nasirov, S. R. Neymetov, Б. А. Наджафов, Ш. Н. Насиров, С. Р. Нейметов
Πηγή: Alternative Energy and Ecology (ISJAEE); № 11 (2024); 47-58 ; Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE); № 11 (2024); 47-58 ; 1608-8298
Θεματικοί όροι: фотоакустическая спектроскопия (ФАС), nanocrystalline silicon films nc-Si:H, monohydride films Si-H, dihydride Si-H2 complexes, polymer films of silicon, structural defects, oscillator forces by direct current decomposition of silane (MASD), optical constants (refraction, reflection, absorption, transmission, extinction coefficient), solar cells, photoacoustic spectroscopy (PAS), нанокристаллические пленки кремния HK-Si:H, моногидридные пленки Si-H, дигидридные Si-H2 комплексы, полимерные пленки кремния, структурные дефекты, силы осциллятора методом разложения силана на постоянном токе (MASD), оптические константы (преломление, отражение, погло¬щение, пропускание, коэффициент ослабления), солнечные элементы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://www.isjaee.com/jour/article/view/2566/2083; Наджафов Б. А., Оптоэлектронные свойства тонких пленок α-Si1-xGex:H (x = 0 ÷ 1). Успехи прикладной физики, фотоэлектроника, 2018, том 6, № 3, с. 242-251.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Получения пленок аморфного гидрогенизированного карбидакремния α-Si1-хGeх:H (х = 0 ÷ 1) для фотоэлектрических преобразователей // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2007. – № 11. – С. 177-179.; Наджафов Б. А. Определение содержания водорода в аморфных пленках твердого раствора α-Si1-xCx:H оптическим методом // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 1, (21), с. 30-34.; Наджафов Б. А. Фотовольтаические эффекты в аморфных пленках α-Si0,80Ge0,20:Hx // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 3, (33), р. 59-63.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Фотопроводимость аморфных пленках α-Si0,80Ge0,20:Hx для солнечных элементов // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 2, (22), р. 35-37; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Оптические свойства аморфных пленок твердого раствора α-Si1-xGex:H с различной концентрацией водорода // ЖПС. – 2005. – V. 72. – № 3. – С. 371-376.; Najafov B. A. Solar cells based on α-Si0,80Ge0,20:H amorphous films // Укр. Физ. журн., 2005, т. 50, № 5, р. 477-482; Наджафов Б. А., Исаков Г. И., Фигаров В. Р. Оптические свойства гидрогенизированных аморфных пленок твердого раствора α-Si0,85Ge0,15:H // Прикладная физика. – 2004, № 4, с. 107-114.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И., Фигаров В. Р. Оптические свойства гидрогенизированных аморфных пленок твердого раствора α-Si0,85Ge0,15:H // Прикладная физика. – 2004. № 4. – С. 107-114.; Najafov B. A., Fiqarov V. R. Hydrogen content evaluation in hydrogenated nano crystalline silicon and its amorphous alloys with germanium and carbon // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2010. – V. 35. – Р. 4361-4367.; Наджафов Б. А. Электронные и оптические процессы гидрогенизированных тонких пленок кремния – германия и перспективы их применения. – Баку, 2013, с. 397.; Brodsky M. H., Cardona M. Infrared and Raman spectra of the silicon-hydrogen bands in amorphous silicon prepared by glow discharge and sputtering // Phys. Rev. B, 1977, v. 16, № 8, p. 3556-3571.; Брус В. В., Солован М. Н., Майструк Э. В., Козярский И. П., Марьянчук П. Д., Ульяницкий К. С., Rappich J. Особенности оптических и электрических свойств поликристаллических пленок CdTe, изготовленных методом термического испарения. Физика твердого тела. – 2014, вып. 10, стр. 1886-1890.; J. Tayes, Grigorovici Retal. Optical properties and electronic structure of amorphous germanium. // J. Non-Cryst. Sol. –1966, v. 15. – №1, р. 627-630.; Бокий Г. Б., Порай-Кощиц М. А. Рентгеноструктурный анализ. Под. ред. акад. Н. Б. Белова. – М.: МГУ, 1964, 488 с.; Singh J., Budhami R. C., Chopra K. L. Vibrational spectra of hydrogen in silicon and germanium // J. Appl / Phys., 1984, v. 56, p. 109-114.; Фиговский О. Л., Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Рост нанокристаллических структур в аморфногидратированных пленках кремния (α-Si:H) / Вестник дома ученых Хайфы. 2008, т. XIV, спец. вып., с. 14-23; Наджафов Б. А. Получение тонких пленок для создания солнечных элементов фотоника. – № 2, 44. – 2014, с. 72-88; Kongo A., Kitahama H. Электрические свойства легированного азотом SiC, спеченного без приложения давления // J. Ceram. Soc. Jap., 1999, v. 107, No 1248, p. 757-761.; Фрицще Х. Аморфный кремний и родственные материалы. – М.: Мир, 1991, 395 с.; Hasegawa B. S., Imai X. Annealing effects on relationships between E. S. R., electrical and optical properties in α-Si:H // Phil. Mag. B., 1982, v. 45, No 3, p. 347-360.; Fang C. J., Cryntz K. J., Ley L., Cardona M. The hydrogen content of α-Ge:H and α-Si:H as determined by IR spectroscopy gas evolution and nuclear reaction techniques // J. of Non.-Cryst. Solids, 1980, v. 35-36, p. 255-260.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Электрооптические свойства аморфно-гидрированных пленок кремний-германий (α-Si1-xGex:H) и создание трехслойных фотоэлементов на их основе // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2007, № 11, с. 174-176.; https://www.isjaee.com/jour/article/view/2566
-
3Conference
Συγγραφείς: Xiao, Shuoting, Fomin, N., Zhang, Yuwen, Ji, Zheng, Meng, Tianxin
Θεματικοί όροι: MARKOV RANDOM FIELD, STRUCTURAL DEFECTS, DEEP LEARNING, МАРКОВСКОЕ СЛУЧАЙНОЕ ПОЛЕ, СТРУКТУРНЫЕ ДЕФЕКТЫ, SATELLITE IMAGERY, ДИСТАНЦИОННОЕ ЗОНДИРОВАНИЕ, DEFECT DETECTION, ВЫЯВЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ, ГЛУБОКОЕ ОБУЧЕНИЕ, СПУТНИКОВЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ, REMOTE SENSING
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/128555
-
4Academic Journal
Θεματικοί όροι: трехмерная функция поля смещений дефекта, точечный дефект кулоновского типа, 2D diffraction images, структурные дефекты, рентгеновская томография, 3D function of the defect displacement field, Coulomb-type point defect, structural defects, двумерные дифракционные изображения, уравнения Такаги–Топена, X-ray tomography, Takagi-Taupin equations
-
5Academic Journal
Συγγραφείς: B. A. Najafov, Sh. N. Nasirov, S. R. Neymetov, Б. А. Наджафов, Ш. Н. Насиров, С. Р. Нейметов
Πηγή: Alternative Energy and Ecology (ISJAEE); № 7 (2024); 21-40 ; Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE); № 7 (2024); 21-40 ; 1608-8298
Θεματικοί όροι: фотоакустическая спектроскопия (ФАС), nanocrystalline silicon films nc-Si:H, monohydride films Si-H, dihydride Si-H2 complexes, polymer films of silicon, structural defects, oscillator forces by direct current decomposition of silane (MASD), optical constants (refraction, reflection, absorption, transmission, extinction coefficient), solar cells, photoacoustic spectroscopy (PAS), нанокристаллические пленки кремния нк-Si:H, моногидридные пленки Si-H, дигидридные Si-H2 комплексы, полимерные пленки кремния, структурные дефекты, силы осциллятора методом разложения силана на постоянном токе (MASD), оптические константы (преломление, отражение, поглощение, пропускание, коэффициент ослабления), солнечные элементы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://www.isjaee.com/jour/article/view/2446/1985; Наджафов Б. А., Оптоэлектронные свойства тонких пленок α-Si1-xGex:H (x = 0 ÷ 1). Успехи прикладной физики, фотоэлектроника, 2018, том 6, № 3, с. 242-251.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Получения пленок аморфного гидрогенизированного карбида- кремния α-Si1-хGeх:H (х = 0 ÷ 1) для фотоэлектрических преобразователей // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2007. – № 11. – С. 177-179.; Наджафов Б. А. Определение содержания водорода в аморфных пленках твердого раствора α-Si1-xCx:H оптическим методом // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 1, (21), с. 30-34.; Наджафов Б. А. Фотовольтаические эффекты в аморфных пленках α-Si0,80Ge0,20:Hx // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 3, (33), р. 59-63.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Фотопроводимость аморфных пленках α-Si0,80Ge0,20:Hx для солнечных элементов // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2005, № 2, (22), р. 35-37; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Оптические свойства аморфных пленок твердого раствора α-Si1-xGex:H с различной концентрацией водорода // ЖПС. – 2005. – V. 72. – № 3. – С. 371-376.; Najafov B. A. Solar cells based on α-Si0,80Ge0,20:H amorphous films // Укр. Физ. журн., 2005, т. 50, № 5, р. 477-482; Наджафов Б. А., Исаков Г. И., Фигаров В. Р. Оптические свойства гидрогенизированных аморфных пленок твердого раствора α-Si0,85Ge0,15:H // Прикладная физика. – 2004, № 4, с. 107-114.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И., Фигаров В. Р. Оптические свойства гидрогенизированных аморфных пленок твердого раствора α-Si0,85Ge0,15:H // Прикладная физика. – 2004. № 4. – С. 107-114.; Najafov B. A., Fiqarov V. R. Hydrogen content evaluation in hydrogenated nano crystalline silicon and its amorphous alloys with germanium and carbon // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2010. – V. 35. – Р. 4361-4367.; Наджафов Б. А. Электронные и оптические процессы гидрогенизированных тонких пленок кремния – германия и перспективы их применения. – Баку, 2013, с. 397.; Brodsky M. H., Cardona M. Infrared and Raman spectra of the silicon-hydrogen bands in amorphous silicon prepared by glow discharge and sputtering // Phys. Rev. B, 1977, v. 16, № 8, p. 3556-3571.; Брус В. В., Солован М. Н., Майструк Э. В., Козярский И. П., Марьянчук П. Д., Ульяницкий К. С., Rappich J. Особенности оптических и электрических свойств поликристаллических пленок CdTe, изготовленных методом термического испарения. Физика твердого тела. – 2014, вып. 10, стр. 1886-1890.; J. Tayes, Grigorovici Retal. Optical properties and electronic structure of amorphous germanium. // J. Non-Cryst. Sol. –1966, v. 15. – №1, р. 627-630.; Бокий Г. Б., Порай-Кощиц М. А. Рентгеноструктурный анализ. Под. ред. акад. Н. Б. Белова. – М.: МГУ, 1964, 488 с.; Singh J., Budhami R. C., Chopra K. L. Vibrational spectra of hydrogen in silicon and germanium // J. Appl / Phys., 1984, v. 56, p. 109-114.; Фиговский О. Л., Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Рост нанокристаллических структур в аморфно- гидратированных пленках кремния (α-Si:H) / Вестник дома ученых Хайфы. 2008, т. XIV, спец. вып., с. 14-23; Наджафов Б. А. Получение тонких пленок для создания солнечных элементов фотоника. – № 2, 44. – 2014, с. 72-88; Kongo A., Kitahama H. Электрические свойства легированного азотом SiC, спеченного без приложения давления // J. Ceram. Soc. Jap., 1999, v. 107, No 1248, p. 757-761.; Фрицще Х. Аморфный кремний и родственные материалы. – М.: Мир, 1991, 395 с.; Hasegawa B. S., Imai X. Annealing effects on relationships between E. S. R., electrical and optical properties in α-Si:H // Phil. Mag. B., 1982, v. 45, No 3, p. 347-360.; Fang C. J., Cryntz K. J., Ley L., Cardona M. The hydrogen content of α-Ge:H and α-Si:H as determined by IR spectroscopy gas evolution and nuclear reaction techniques // J. of Non.-Cryst. Solids, 1980, v. 35-36, p. 255-260.; Наджафов Б. А., Исаков Г. И. Электрооптические свойства аморфно-гидрированных пленок кремний-германий (α-Si1-xGex:H) и создание трехслойных фотоэлементов на их основе // Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE). – 2007, № 11, с. 174-176.; https://www.isjaee.com/jour/article/view/2446
-
6Academic Journal
Συγγραφείς: Fedorovich, Zh. P., Gerasimova, Marina A., Fakhrutdinova, Elena D., Svetlichnyi, Valerii A.
Πηγή: Russian physics journal. 2022. Vol. 64, № 11. P. 2115-2122
Θεματικοί όροι: наночастицы, структурные дефекты, лазерная обработка, 0103 physical sciences, диоксид титана, фотолюминесценция, импульсная лазерная абляция, 01 natural sciences
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000925763
-
7Academic Journal
Συγγραφείς: Boroznovskaya, Nina Nikolaevna, Zvyagintseva, Elizaveta Vladimirovna, Korneva, Alexandra Pavlovna, Nebera, Tatiana Stepanovna
Πηγή: Известия Томского политехнического университета
Bulletin of the Tomsk Polytechnic UniversityΘεματικοί όροι: кварц, люминесцентные свойства, рентгеноструктурный анализ, chalcedony, onyx, structure defects, South Kuzbass magmatic area, халцедон, минеральный состав, quartz, люминесценция, структурные дефекты, agate, агат, luminescence
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
8Academic Journal
Συγγραφείς: A. I. Potekaev, A.A. Chaplyginа, A. A. Klopotov, Mikhail D. Starostenkov, V. V. Kulagina
Πηγή: Izvestiya of Altai State University; No 4(114) (2020): Izvestiya of Altai State University; 39-46
Известия Алтайского государственного университета; № 4(114) (2020): Известия Алтайского государственного университета; 39-46
Известия Алтайского государственного университета, Iss 4(114), Pp 39-46 (2020)Θεματικοί όροι: intermetallic, Physics, QC1-999, слабоустойчивые предпереходные состояния, nial, атомный порядок, 02 engineering and technology, History (General), 01 natural sciences, atomic order, 7. Clean energy, low stable pretransition states, интерметаллид, 13. Climate action, структурные дефекты, D1-2009, 0103 physical sciences, NiAl, structural defects, 0210 nano-technology
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
9Academic Journal
Συγγραφείς: A.I. Potekaev, A.A. Chaplygina, M.D. Starostenkov, A.A. Klopotov, V.V. Kulagina, P.A. Chaplygin, E.S. Marchenko
Πηγή: Izvestiya of Altai State University; No 1(111) (2020): Izvestiya of Altai State University; 22-28
Известия Алтайского государственного университета; № 1(111) (2020): Известия Алтайского государственного университета; 22-28
Известия Алтайского государственного университета, Iss 1(111), Pp 22-28 (2020)Θεματικοί όροι: intermetallic, Physics, QC1-999, слабоустойчивые предпереходные состояния, nial, атомный порядок, 02 engineering and technology, History (General), 01 natural sciences, atomic order, low-stability pre-transitional structural-phase states, интерметаллид, структурные дефекты, D1-2009, 0103 physical sciences, NiAl, structural defects, 0210 nano-technology
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
10Academic Journal
Πηγή: Известия высших учебных заведений. Физика. 2023. Т. 66, № 6. С. 29-35
Θεματικοί όροι: отжиг, структурные дефекты, термоэлектрические свойства, твердые растворы, монокристаллы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001005291
-
11Conference
Συγγραφείς: Лаптев, Роман Сергеевич, Бордулёв, Юрий Сергеевич, Кудияров, Виктор Николаевич, Лидер, Андрей Маркович
Θεματικοί όροι: позитронная спектроскопия, структурные дефекты, материалы-накопители, водород, ядерные реакторы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: Водород. Технологии. Будущее : сборник тезисов докладов Всероссийской научно-практической конференции, г. Томск, 23-24 декабря 2020 г.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/64969
Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/64969
-
12Academic Journal
Συγγραφείς: Bonchyk, A. Yu., Savytskyy, Hrygory V., Dvoretsky, Sergei A., Mikhailov, Nikolay N., Yakushev, Maxim V., Świątek, Zbigniew, Morgiel, Y., Izhnin, Igor I., Voytsekhovskiy, Alexander V., Korotaev, A. G., Mynbaev, Karim D., Fitsych, Olena I., Varavin, Vasilii S.
Πηγή: Applied nanoscience. 2020. Vol. 10, № 8. P. 2867-2871
Θεματικοί όροι: структурные дефекты, 0103 physical sciences, квантовые ямы, молекулярно-лучевая эпитаксия, 02 engineering and technology, 0210 nano-technology, 01 natural sciences, просвечивающая электронная микроскопия
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΣύνδεσμος πρόσβασης: https://link.springer.com/article/10.1007/s13204-019-01142-x
http://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2019ApNan.tmp..262B/abstract
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000656168 -
13Conference
Θεματικοί όροι: позитронная спектроскопия, структурные дефекты, материалы-накопители, водород, ядерные реакторы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/64969
-
14Academic Journal
Πηγή: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ; № 11 (2021): Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ; 48-58
Scientific works of the Faculty of Physics and Mathematics of Donbas State Pedagogical University; No. 11 (2021): Scientific works of the faculty of physics and mathematics of Donbas State Pedagogical University; 48-58Θεματικοί όροι: дислокація, dislocation, дислокация, microplasticity, методи дослідження, кластер, methods of investigation, мікропластичність, структурні дефекти, структурные дефекты, structural defects, методы исследования, cluster, микропластичность
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://znpfizmat.ddpu.edu.ua/article/view/234828
-
15Academic Journal
Συγγραφείς: Белослудцева, Анна Алексеевна, Бобенко, Надежда Георгиевна, Сапежинская, Татьяна Александровна
Πηγή: Известия высших учебных заведений. Физика. 2024. Т. 67, № 11. С. 92-96
Θεματικοί όροι: примесные атомы, структурные дефекты, термоэлектрические свойства, температурная зависимость, структурный беспорядок, термоЭДС, однослойный графен
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: koha:001151122; https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001151122
-
16Academic Journal
Πηγή: Фундаментальные проблемы современного материаловедения.
Θεματικοί όροι: кальцийсодержащие минералы, алмазы, рентгенолюминесцентная спектроскопия, микроскопия, структурные дефекты, физико-химические свойства, высоковольтные наносекундные импульсы, поверхность, микротверость
-
17Academic Journal
Πηγή: Photoelectronics; № 21 (2012); 5-12
Θεματικοί όροι: полупроводниковая подложка, структурные дефекты, ультразвуковая деформация, внутреннее трение, модуль упругости, semiconductor wafer-plate, structure defects, ultrasound deformation, internal friction, elastic module, напівпровідникова підкладка, структурні дефекти, ультразвукова деформація, внутрішнє тертя, модуль пружності
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://photoelectronics.onu.edu.ua/article/view/205222
-
18
-
19Academic Journal
Πηγή: AIP Conference Proceedings. 1623:403-406
Θεματικοί όροι: поверхности, 0203 mechanical engineering, структурные дефекты, 11. Sustainability, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, 02 engineering and technology, статические деформации, рельефы, поликристаллические сплавы, алюминиевые сплавы
-
20Academic Journal
Συγγραφείς: Чаплыгина, Александра Александровна, Чаплыгин, Павел Александрович, Старостенков, Михаил Дмитриевич, Кулагина, Валентина Васильевна, Клопотов, Анатолий Анатольевич, Гринкевич, Лариса Сергеевна, Потекаев, Александр Иванович
Πηγή: Известия высших учебных заведений. Физика. 2019. Т. 62, № 1. С. 104-111
Θεματικοί όροι: интерметаллиды, атомный порядок, структурные дефекты, слабоустойчивые состояния, структурно-фазовые состояния, энергетические характеристики
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: vtls:000656778; https://openrepository.ru/article?id=269252
Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=269252