СТАТИСТИЧЕСКИЙ КРИТЕРИЙ ОЦЕНКИ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ НА ОСНОВЕ ХАРАКТЕРИСТИК НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА

Συγγραφείς: Булгаков, Олег, Таравков, Михаил

Θεματικοί όροι: ROOT-MEAN-SQUARE VALUE OF LOW-FREQUENCY NOISE'S VOLTAGE, ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА, СРЕДНЕКВАДРАТИЧНОЕ ЗНАЧЕНИЕ НАПРЯЖЕНИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА, ДВУМЕРНЫЙ КРИТЕРИЙ, ФУНКЦИЯ ПЕРЕХОДА, ВЕРОЯТНОСТЬ ОТКАЗА, ИНТЕРВАЛЬНАЯ ОЦЕНКА

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/statisticheskiy-kriteriy-otsenki-nadezhnosti-poluprovodnikovyh-priborov-i-integralnyh-mikroshem-na-osnove-harakteristik
http://cyberleninka.ru/article_covers/13999229.png

Статистический критерий оценки надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на основе характеристик низкочастотного шума

Πηγή: Вестник Воронежского института МВД России.

Θεματικοί όροι: ROOT-MEAN-SQUARE VALUE OF LOW-FREQUENCY NOISE'S VOLTAGE, ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА, СРЕДНЕКВАДРАТИЧНОЕ ЗНАЧЕНИЕ НАПРЯЖЕНИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА, ДВУМЕРНЫЙ КРИТЕРИЙ, ФУНКЦИЯ ПЕРЕХОДА, ВЕРОЯТНОСТЬ ОТКАЗА, ИНТЕРВАЛЬНАЯ ОЦЕНКА

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article/n/statisticheskiy-kriteriy-otsenki-nadezhnosti-poluprovodnikovyh-priborov-i-integralnyh-mikroshem-na-osnove-harakteristik
http://cyberleninka.ru/article_covers/13999229.png