Рентгеновская рефлектометрия в исследованиях твердых и жидких слоистых структур

Θεματικοί όροι: Рентгеновская рефлектометрия, твердые и жидкие слоистые структуры

ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЁНОК КОБАЛЬТА И ЖЕЛЕЗА МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ

Θεματικοί όροι: film thickness, thin films, тонкие плёнки, roughness analysis, рентгеновская рефлектометрия, толщина пленки, x-ray reflectometry, modeling, анализ шероховатости, моделирование

Структура тонких пленок co/pd с перпендикулярной магнитной анизотропией

Συγγραφείς: Maximenko, A.A.

Θεματικοί όροι: Co/Pdthin films, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности, перпендикулярная магнитная анизотропия, crystal structure of thin films, X-ray diffraction of thin films with inclination of diffraction vector with respect tothe surface normal, интерфейсы многослойных тонких пленок, perpendicular magnetic anisotropy, рентгеновская рефлектометрия, тонкие пленки Co/Pd, X-ray reflectivity, кристаллическая структура тонких плёнок, thin films analysis by X-ray diffraction, interfaces of multilayered thin films

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=206016

A change in the morphology of multilayer porous silicon with a stepwise decrease in the etching current density

Συγγραφείς: Lenshin, Alexander, Peshkov, Yaroslav, Chernousova, Olga, Kannykin, Sergey, Grechkina, Margarita, Minakov, Dmitriy, Zolotukhin, Dmitriy, Agapov, Boris

Θεματικοί όροι: porous silicon, multilayer nanostructures, рентгеновская рефлектометрия, морфология поверхности, surface morphology, многослойные наноструктуры, X-ray reflectivity, пористый кремний

Исследование изменения параметров тонкопленочных структур в процессе ионной имплантации

Πηγή: Вестник Балтийского федерального университета им. И. Канта. Серия: Физико-математические и технические науки.

Θεματικοί όροι: РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ, РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ, РАЗМЕР ЗЕРНА, ТОЛЩИНА ПЛЕНКИ

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-izmeneniya-parametrov-tonkoplenochnyh-struktur-v-protsesse-ionnoy-implantatsii
http://cyberleninka.ru/article_covers/15555003.png

Структура тонких пленок co/pd с перпендикулярной магнитной анизотропией

Additional Titles: Structure of co/pd thin films with perpendicular magnetic anisotropy

Συγγραφείς: Максименко, А.А., Maximenko, A.A.

Όροι ευρετηρίου: тонкие пленки Co/Pd, перпендикулярная магнитная анизотропия, интерфейсы многослойных тонких пленок, кристаллическая структура тонких плёнок, рентгеновская рефлектометрия, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности, Co/Pdthin films, perpendicular magnetic anisotropy, interfaces of multilayered thin films, crystal structure of thin films, X-ray reflectivity, thin films analysis by X-ray diffraction, X-ray diffraction of thin films with inclination of diffraction vector with respect tothe surface normal, Article

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/206016uri