-
1Academic Journal
Συγγραφείς: D. Panghal, R. Yadav
Πηγή: Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики, Vol 23, Iss 3, Pp 473-482 (2024)
Θεματικοί όροι: otft, sio2, pei-ep, pom-h, подвижность, пороговое напряжение, Information technology, T58.5-58.64
Περιγραφή αρχείου: electronic resource
Relation: https://ntv.elpub.ru/jour/article/view/7; https://doaj.org/toc/2226-1494; https://doaj.org/toc/2500-0373
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://doaj.org/article/2aa1287dadb44fec88bdbbb72fae314c
-
2Academic Journal
Συγγραφείς: V. V. Zinovev, O. M. Mirsaetov, S. B. Kolesova, O. A. Bartenev, В. В. Зиновьев, О. М. Мирсаетов, С. Б. Колесова, О. A. Бартенев
Πηγή: Alternative Energy and Ecology (ISJAEE); № 2 (2023); 19-26 ; Альтернативная энергетика и экология (ISJAEE); № 2 (2023); 19-26 ; 1608-8298
Θεματικοί όροι: W-функция Ламберта, PV cell, variegated lighting of solar modules, threshold voltage of the reverse I–V characteristic, power losses, bypass diodes, Lambert W-function, фотоэлектрический преобразователь, неоднородное освещение, пороговое напряжение обратной ветви ВАХ, потери мощности, байпасный диод
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://www.isjaee.com/jour/article/view/2199/1795; Возобновляемые источники энергии России: ГИС [Электр. ресурс]. Режим доступа: gisre.ru. Дата обращ.: 01.11.2022.; Энергетическая стратегия Российской Федерации на период до 2035 года [Электр. ресурс]. Режим доступа: minenergo.gov.ru/node/1026. Дата обращ.: 01.11.2022.; Garcia-Sanchez, Francisco & Romero, Beatriz & Lugo, Denise & Del Pozo, Gonzalo & Arredondo, Belen & Liou, Jane & Ortiz-Conde, Adelmo. (2017). Modelling solar cell S-shaped I-V characteristics with DC lumped-parameter equivalent circuits a review. FACTA UNIVERSITATIS Series Electronics and Energetics. 30. 327-350.; Xiankun Gao, Yan Cui, Jianjun Hu, Guangyin Xu, Yongchang Yu. Lambert W-function based exact representation for double diode model of solar cells: Comparison on fitness and parameter extraction. Energy Conversion and Management, Volume 127, 2016, Pages 443-460.; Shu-xian Lun, Shuo Wang, Gui-hong Yang, Ting-ting Guo. A new explicit double-diode modeling method based on Lambert W-function for photovoltaic arrays. Solar Energy, Volume 116, 2015, Pages 69-82.; Bishop, J.W. Computer simulation of the effects of electrical mismatches in photovoltaic cell interconnection circuits // Bishop, J.W. / Solar Cells 25. – 1988. –P. 73-89.; Зиновьев, В.В. Математическая модель фотоэлектрического преобразователя с использованием W-функции Ламберта / В.В. Зиновьев, А.П. Бельтюков, О.А. Бартенев // Известия Института математики и информатики Удмуртского государственного университета. – 2016. – №2 (48). – С. 22-30.; Зиновьев, В.В. Моделирование солнечных преобразователей при неравномерной освещённости / В.В. Зиновьев, О.А. Бартенев, А.П. Бельтюков // Промышленная энергетика. - 2018. - Вып. 7. С. 58-67.; Зиновьев В.В. Диагностика промышленных солнечных модулей в областях прямой и обратной ветвей вольт-амперной характеристики при неоднородном освещении / В.В. Зиновьев, О.А. Бартенев // Промышленная энергетика. – 2020. – № 1. С. 56-62.; Зиновьев В.В. Двухдиодная модель солнечных преобразователей на основе W-функции Ламберта для прямой и обратной ветви вольт-амперной характеристики / В.В. Зиновьев, О.А. Бартенев // Промышленная энергетика. - 2020. - № 12. С. 33-39.; Fertig, Fabian & Rein, Stefan & Schubert, Martin & Warta, Wilhelm. (2011). Impact of junction break-down in multi-crystalline silicon solar cells on hot spot formation and module performance. Conference: 26th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. 5-9 September 2011, Hamburg, Germany.; Способ составления солнечного модуля из фотоэлектрических преобразователей: заявка 2022128214 Рос. Федерация; приоритет 01.11.2022.; Солнечный модуль с блоком диагностики: заявка 2022128218 Рос. Федерация; приоритет 01.11.2022.; https://www.isjaee.com/jour/article/view/2199
-
3Academic Journal
Πηγή: Вестник Академии наук Чеченской Республики.
Θεματικοί όροι: деградация, мышьяк, пороговое напряжение, инжекция, горячие носители, длина канала, кремний
-
4Academic Journal
Συγγραφείς: Кичак, В. М., Вовк, В. Л., Барабан, І. О.
Πηγή: Visnyk of Vinnytsia Politechnical Institute; No. 3 (2021); 113-119 ; Вестник Винницкого политехнического института; № 3 (2021); 113-119 ; Вісник Вінницького політехнічного інституту; № 3 (2021); 113-119 ; 1997-9274 ; 1997-9266 ; 10.31649/1997-9266-2021-156-3
Θεματικοί όροι: radiation resistance, amorphous semiconductors, delay time, mobility of charge carriers, threshold voltage, радиационная стойкость, аморфные полупроводники, время задержки, подвижность носителей заряда, пороговое напряжение, радіаційна стійкість, аморфні напівпровідники, час затримки, рухливість носіїв заряду, порогова напруга
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/2636/2496; https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/2636
-
5
-
6Academic Journal
Πηγή: Вестник Академии наук Чеченской Республики.
Θεματικοί όροι: isolated gate field effect transistors, деградация, МДП-транзистор, азотирование, oxidation, окисление, hot carriers, 7. Clean energy, пороговое напряжение, nitriding, горячие носители, threshold voltage, degradation
-
7Academic Journal
Συγγραφείς: Кичак, В. М., Слободян, І. В., Вовк, В. Л.
Πηγή: Visnyk of Vinnytsia Politechnical Institute; No. 4 (2019); 116-123 ; Вестник Винницкого политехнического института; № 4 (2019); 116-123 ; Вісник Вінницького політехнічного інституту; № 4 (2019); 116-123 ; 1997-9274 ; 1997-9266 ; 10.31649/1997-9266-2019-145-4
Θεματικοί όροι: chalcogenide glassy semiconductors, radiation stability, dose of irradiation, non-volatile storage, access memory, phase transition, amorphus semiconductors, threshold voltage, physical model of the memory cell, switching delay time, халькогенидные стекловидные полупроводники, радиационная устойчивость, энергонезависимая память, фазовые переходы, аморфные полупроводники, доза облучения, пороговое напряжение, физическая модель ячейки памяти, время задержки переключения, халькогенідні склоподібні напівпровідники, радіаційна стійкість, енергонезалежна пам'ять, фазові переходи, аморфні напівпровідники, доза опромінення, порогова напруга, фізична модель комірки пам’яті, час затримки перемикання
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/2394/2313; https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/2394
-
8Academic Journal
Συγγραφείς: N. L. Lagunovich, Н. Л. Лагунович
Πηγή: Science & Technique; Том 17, № 1 (2018); 72-78 ; НАУКА и ТЕХНИКА; Том 17, № 1 (2018); 72-78 ; 2414-0392 ; 2227-1031 ; 10.21122/2227-1031-2018-17-1
Θεματικοί όροι: пороговое напряжение, process flow, physic-topological simulation, device-process simulation, “virtual production”, channel stopper, metal contact, threshold voltage, технологический маршрут, физико-топологическое моделирование, приборно-технологическое моделирование, «виртуальное производство», охранное кольцо, металлический контакт
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://sat.bntu.by/jour/article/view/1317/1236; Дудар, Н. Л. Моделирование кремниевого транзистора со статической индукцией / Н. Л. Дудар // Доклады Белор. гос. ун-та информатики и радиоэлектроники. 2005. № 2 (10). C. 79–85.; Исмаилов, Т. А. Технологическое решение по улучшению параметров кристалла биполярного со статической индукцией транзистора / Т. А. Исмаилов, А. Р. Шахмаева, П. Р. Захарова // Вестник Дагест. гос. техн. ун-та. 2011. Т. 20, № 1. С. 6–11.; Silvaco [Electronic Resource]. Mode of access: http://www.silvaco.com/products/tcad.html.; Компьютерная программа MOD-1D: св-во о гос. рег. № 742 Респ. Беларусь / Н. Л. Лагунович; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ», № t 20140041; зап. в Реестре, зарегистрированных в Нац. центре интеллект. собств. комп. программ 10.03.2015.; МОП-СБИС. Моделирование элементов и технологических процессов / под ред. П. Антонетти [и др.]: пер. с англ. М.: Радио и связь, 1988. 490 с.; Gummel, H. K. A Self Consistent Iterative Scheme for One-Dimentional Steady State Transistor Calculations / H. K. Gummel // IEEE Trans. Electron. Dev. 1964. Vol. ED-11, No 10. P. 455–465. DOI:10.1109/t-ed.1964.15364.; Польский, Б. С. Численное моделирование полупроводниковых приборов / Б. С. Польский. Рига: Зинатне, 1986. 168 с.; Автоматизация проектирования БИС: в 6 кн. / под ред. Г. Г. Казеннова. М.: Высш. шк., 1990. Кн. 5: Физикотопологическое моделирование структур элементов БИС / В. Я. Кремлев. 144 с.; Нелаев, В. В. Основы САПР в микроэлектронике / В. В. Нелаев, В. Р. Стемпицкий. Минск: БГУИР, 2008. 220 с.; Самарский, А. А. Методы решения сеточных уравнений / А. А. Самарский, Е. С. Николаев. М.: Наука, 1978. 532 с.; https://sat.bntu.by/jour/article/view/1317
-
9Academic Journal
Θεματικοί όροι: electrical current path, threshold current, frequency of current, electrical parameters, пороговый ток, электрические параметры, 7. Clean energy, путь тока, пороговое напряжение, threshold voltage, частота тока
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://research-journal.org/technical/sootnoshenie-elektricheskix-parametrov-organizma-cheloveka-po-naibolee-veroyatnym-putyam-toka/
https://research-journal.org/wp-content/uploads/2018/06/6-1-72.pdf#page=33
https://cyberleninka.ru/article/n/sootnoshenie-elektricheskih-parametrov-organizma-cheloveka-po-naibolee-veroyatnym-putyam-toka -
10Report
Συγγραφείς: Терентьева, Оксана Юрьевна
Συνεισφορές: Шульгина, Юлия Викторовна
Θεματικοί όροι: акустический глубиномер, эхо-импульс, глубина скважины, двухчастотный метод прихода импульса, пороговое напряжение компаратора, acoustic depth gauge, echo-pulse, hole depth, dual-frequency sensing method, comparator threshold voltage, 11.03.04, 622.016.25:531.719.35.082.4
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: Терентьева О. Ю. Акустический скважинный глубиномер : бакалаврская работа / О. Ю. Терентьева; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности (ИШНКБ), Отделение электронной инженерии (ОЭИ); науч. рук. Ю. В. Шульгина. — Томск, 2018.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/48917
Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/48917
-
11Academic Journal
Συγγραφείς: Пилипенко, А.
Θεματικοί όροι: МОП-ТРАНЗИСТОР, УДЕЛЬНАЯ КРУТИЗНА, ПОРОГОВОЕ НАПРЯЖЕНИЕ, ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ, АППРОКСИМАЦИЯ, КРИОГЕННЫЕ ТЕМПЕРАТУРЫ
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
12Academic Journal
Συγγραφείς: Масальский, Н.
Θεματικοί όροι: СТРУКТУРА «ГЕРМАНИЙ НА ИЗОЛЯТОРЕ»,ДВУХЗАТВОРНЫЙ ПОЛЕВОЙ НАНОТРАНЗИСТОР,АНАЛИТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ,РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ПОТЕНЦИАЛА,ПОРОГОВОЕ НАПРЯЖЕНИЕ,ПОДПОРОГОВЫЙ НАКЛОН,
structure "germanium on an insulator", double gate field nanotransistor, analytical model, potential distribution, threshold voltage, subthreshold slope Περιγραφή αρχείου: text/html
-
13Academic Journal
Συγγραφείς: Прищепа, М., Лозовий, С.
Θεματικοί όροι: ion-selective field-effect transistor(ISFET), ион-селективный полевой транзистор (ИСПТ), ионный состав раствора, пороговое напряжение, іон-селективний польовий транзистор (ІСПТ), йонний склад розчи-ну, порогова напруга
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
14Academic Journal
Συγγραφείς: Кучеев, С. И., Тучина, Ю. С.
Θεματικοί όροι: физика, физика твердого тела, кристаллография, электрооптика, нематические ячейки, материаловедение, кремний, плазма, нематики, светочувствительность, пороговое напряжение
Διαθεσιμότητα: http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/53346
-
15Academic Journal
Συγγραφείς: Болдин, Максим, Нохрин, Алексей, Чувильдеев, Владимир, Чегуров, Михаил, Бутусова, Елена, Степанов, Сергей, Козлова, Наталия, Лопатин, Юрий, Котков, Дмитрий
Θεματικοί όροι: КОРРОЗИОННОЕ РАСТРЕСКИВАНИЕ ПОД НАПРЯЖЕНИЕМ, СТАЛЬ, ИНКУБАЦИОННЫЙ ПЕРИОД, ПОРОГОВОЕ НАПРЯЖЕНИЕ, МИКРОПЛАСТИЧЕСКАЯ ДЕФОРМАЦИЯ, ПРЕДЕЛ МАКРОУПРУГОСТИ, ГРАНИЦА ЗЕРНА, СТАРЕНИЕ
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
16Academic Journal
Συγγραφείς: Бабокин, Г., Селин, О.
Θεματικοί όροι: МНОГОДВИГАТЕЛЬНЫЙ ЧАСТОТНО-РЕГУЛИРУЕМЫЙ ЭЛЕКТРОПРИВОД,АВАРИЙНЫЙ РЕЖИМ,КОРОТКОЕ ЗАМЫКАНИЕ,ПОРОГОВОЕ НАПРЯЖЕНИЕ,ВРЕМЯ СРАБАТЫВАНИЯ
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
17Academic Journal
Πηγή: Известия Томского политехнического университета.
Θεματικοί όροι: ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ, РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ, S-ОБРАЗНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА, ПОРОГОВОЕ НАПРЯЖЕНИЕ, ЦЕПОЧЕЧНАЯ СТРУКТУРА, СОЕДИНЕНИЯ INGATE 2
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
18Academic Journal
Πηγή: Электротехнические и информационные комплексы и системы.
Περιγραφή αρχείου: text/html
-
19Academic Journal
Θεματικοί όροι: материалы конференций, резистивная память, SPICE моделирование, пороговое напряжение
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=215564
-
20Academic Journal
Πηγή: Программные продукты и системы.
Περιγραφή αρχείου: text/html