Использование способа стандарта-фона при определении элементов в донных отложениях методом рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

Συγγραφείς: Pashkova, G. V., Mukhamedova, М. М., Aisueva, Т. S., Finkelshtein, А. L., Shchetnikov, А. А.

Θεματικοί όροι: TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, SCATTERED RADIATION METHOD, XRF, МЕТИЛЦЕЛЛЮЛОЗА, INTERNAL STANDARD, РФА, METHYLCELLULOSE, ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ, СПОСОБ СТАНДАРТА-ФОНА, РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ, ВНУТРЕННИЙ СТАНДАРТ, TXRF, РФА ПВО, ДОННЫЕ ОТЛОЖЕНИЯ, SEDIMENTS

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/68017

ОСОБЕННОСТИ ГРАДУИРОВКИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО СПЕКТРОМЕТРА С ПОЛНЫМ ВНЕШНИМ ОТРАЖЕНИЕМ 'NANOHUNTER' С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ РАСТВОРОВ ЭЛЕМЕНТОВ

Συγγραφείς: КУЛЕШ Н.А., СОБИНА Е.П., ВАСЬКОВСКИЙ В.О., КОРОТНЕВ М.О.

Θεματικοί όροι: РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ,X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS,ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ,TOTAL EXTERNAL REFLECTION,СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ РАСТВОРОВ,STANDARD SOLUTIONS

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/osobennosti-graduirovki-rentgenofluorestsentnogo-spektrometra-s-polnym-vneshnim-otrazheniem-nanohunter-s-ispolzovaniem-standartnyh
http://cyberleninka.ru/article_covers/16954889.png

ОСОБЕННОСТИ ГРАДУИРОВКИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО СПЕКТРОМЕТРА С ПОЛНЫМ ВНЕШНИМ ОТРАЖЕНИЕМ 'NANOHUNTER' С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ РАСТВОРОВ ЭЛЕМЕНТОВ

Πηγή: Стандартные образцы.

Θεματικοί όροι: РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ,X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS,ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ,TOTAL EXTERNAL REFLECTION,СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ РАСТВОРОВ,STANDARD SOLUTIONS

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article/n/osobennosti-graduirovki-rentgenofluorestsentnogo-spektrometra-s-polnym-vneshnim-otrazheniem-nanohunter-s-ispolzovaniem-standartnyh
http://cyberleninka.ru/article_covers/16954889.png

Исследование магнитных пленочных структур методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии

Συγγραφείς: Kulesh, N. A.

Θεματικοί όροι: ОТЧЕТ О НИР, ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ, MAGNETIC FILMS, РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, МАГНИТНЫЕ ПЛЕНКИ, TOTAL EXTERNAL REFLECTION

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://elar.urfu.ru/handle/10995/21444

Исследование магнитных пленочных структур методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии

Συγγραφείς: Кулеш, Н. А., Kulesh, N. A.

Θεματικοί όροι: ОТЧЕТ О НИР, РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ, МАГНИТНЫЕ ПЛЕНКИ, ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, MAGNETIC FILMS, TOTAL EXTERNAL REFLECTION

Relation: http://elar.urfu.ru/handle/10995/21444

Διαθεσιμότητα: http://elar.urfu.ru/handle/10995/21444

About peculiarities of X-ray nanophotonics on the base of the planar X-ray waveguide-resonators ; О некоторых особенностях рентгеновской нанофотоники на базе плоских рентгеновских волноводов-резонаторов

Συγγραφείς: Egorov V.K., Egorov E.V.

Πηγή: Успехи прикладной физики

Θεματικοί όροι: рентгеновское излучение, водновод-резонатор, x-ray, waveguide-resonator, total external reflection, standing wave, полное внешнее отражение, стоячая волна

Relation: https://repository.rudn.ru/records/article/record/146518/

Διαθεσιμότητα: https://repository.rudn.ru/records/article/record/146518/

High effective TXRF spectrometry with using waveguide-resonance structures ; Высокоэффективная рентгенофлуоресцентная спектрометрия материалов в условиях полного внешнего отражения потоков возбуждения, сформированных волноводно-резонансными устройствами

Συγγραφείς: Egorov E.V., Egorov V.K., Kotova A.A., Borisov S.A.

Πηγή: Успехи прикладной физики

Θεματικοί όροι: рентгенофлуоресцентный анализ, полное внешнее отражение, волновод-резонатор, ионно-пучковый анализ, рентгеновское излучение, рентгеновская спектрометрия, рентгеновская флуоресценция, x-ray fluorescence analysis, Total external reflection, waveguide-resonator, Ion beam analysis, x-ray radiation, X-Ray spectrometry, x-ray fluorescence

Relation: https://repository.rudn.ru/records/article/record/61682/

Διαθεσιμότητα: https://repository.rudn.ru/records/article/record/61682/

Использование способа стандарта-фона при определении элементов в донных отложениях методом рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

Συγγραφείς: Pashkova, G. V., Mukhamedova, М. М., Aisueva, Т. S., Finkelshtein, А. L., Shchetnikov, А. А., Пашкова, Г. В., Мухамедова, М. М., Айсуева, Т. С., Финкельштейн, А. Л., Щетников, А. А.

Όροι ευρετηρίου: РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ, РФА, ПОЛНОЕ ВНЕШНЕЕ ОТРАЖЕНИЕ, РФА ПВО, ДОННЫЕ ОТЛОЖЕНИЯ, МЕТИЛЦЕЛЛЮЛОЗА, ВНУТРЕННИЙ СТАНДАРТ, СПОСОБ СТАНДАРТА-ФОНА, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, XRF, TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE, TXRF, SEDIMENTS, METHYLCELLULOSE, INTERNAL STANDARD, SCATTERED RADIATION METHOD, Article, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/10995/68017
Аналитика и контроль. 2018. № 2
info:eu-repo/grantAgreement/RSF//17-77-10118
info:eu-repo/grantAgreement/RSF//16-17-10079