СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ КАК МЕТОД ИЗУЧЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ

Συγγραφείς: Ясников, И., Нагорнов, Ю., Горбачев, И., Микеев, Р., Садовников, П., Шубчинская, Н., Аминаров, А.

Θεματικοί όροι: ЭЛЕКТРОННАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, МИКРОКРИСТАЛЛЫ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ, МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОКРИСТАЛЛОВ

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/skaniruyuschaya-elektronnaya-mikroskopiya-kak-metod-izucheniya-mikroskopicheskih-obektov-elektroliticheskogo-proishozhdeniya
http://cyberleninka.ru/article_covers/15360531.png

Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения микроскопических объектов электролитического происхождения

Πηγή: Фундаментальные исследования.

Θεματικοί όροι: ЭЛЕКТРОННАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, МИКРОКРИСТАЛЛЫ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ, МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОКРИСТАЛЛОВ

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article_covers/15360531.png
http://cyberleninka.ru/article/n/skaniruyuschaya-elektronnaya-mikroskopiya-kak-metod-izucheniya-mikroskopicheskih-obektov-elektroliticheskogo-proishozhdeniya